YH-E745高低溫恒溫恒溫試驗(yàn)箱 溫濕度老化箱適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。

YH-E745高低溫恒溫恒溫試驗(yàn)箱 溫濕度老化箱規(guī)格與技術(shù)參數(shù):

高低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。

三、高低溫試驗(yàn)箱性能指標(biāo):

1.溫度范圍: A:0℃～150℃，B:-20℃～150℃，C:-40℃～150℃，D:-60℃～150℃，E:-70℃～150℃

2.溫度波動(dòng)度: ≤±0.5℃

3.溫度均勻度：≤±2℃

4.精度范圍: 設(shè)定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃

5.升溫速率: 1.0～3.0℃/min

6.降溫速率: 0.7～1.0℃/min

1、YH-E745高低溫恒溫恒溫試驗(yàn)箱 溫濕度老化箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；                GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法                   GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；                GB/T2423.22-2002試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法；       
IEC60068-2-1：2007 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；              GJB150.4 低溫試驗(yàn)；
IEC60068-2-2：2007 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；              GJB150.3 高溫試驗(yàn)；
IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷；                              IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱；