日立X-MET8000系列手持式
X-MET方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結(jié)果。
我們提供多種型號的產(chǎn)品，符合您不同應(yīng)用的所有分析需要和預(yù)算。
為什么選擇 X-MET 光譜儀
性能
X-MET提供的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供可靠結(jié)果。
通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度，則使用實證校準(zhǔn)。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面，使用戶只需要少的培訓(xùn)便可開始操作。
符合人體工學(xué)
X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而疲勞度低。
堅固耐用而擁有成本低
符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
通過MIL-STD-810G耐用標(biāo)準(zhǔn)測試。
其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的修費用。
高級數(shù)據(jù)管理
*靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機，或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。
應(yīng)用
| X-MET8000 Smart | X-MET8000 Optimum | X-MET8000 Expert |
廢金屬回收 | ? | ? | ? |
材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | | ? | ? |
制造與 PMI QA/QC | ? | ? | ? |
貴金屬 | ? | ? | ? |
監(jiān)管機構(gòu)合規(guī)篩查 （消費品、包裝、原材料材料…） | | ? | ? X-MET8000 Expert CG |
環(huán)境土壤篩查 | | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo |
礦石和礦物 | | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo |
金屬鍍層厚度測量 | ? | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
比較型號
X-MET8000 Smart | X-MET8000 Optimum | X-MET8000 Expert |
X射線管：40kV | X射線管：40kV or 50kV | X射線管：50kV |
濾光片：單一 | 濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器 | 濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器 |
檢測器：大面積 SDD | 檢測器：大面積 SDD | 檢測器：大面積 SDD |
樣本溫度：400ºC | 樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選) | 樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選) |
符合 IP54 等級 | 符合 IP54 等級 | 符合 IP54 等級 |
Thick Kapton®窗口：保護以預(yù)防探測器的窗戶損壞 | 可選窗口防護罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護 | 可選窗口防護罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護 |
校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP) | 校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析） | 校準(zhǔn)方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法（可進(jìn)行追溯） |
內(nèi)置攝像頭 （可選） | 內(nèi)置攝像頭（可選） | 內(nèi)置攝像頭 |
| 小光班準(zhǔn)直器（可選） | 小光班準(zhǔn)直器 （可選) |
| 針對所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片 | 針對所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片 |
