COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀電解原理
COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀的儀器通過電解去除層來測量涂層厚度。 特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。 部署CSM2 STEP版本，用于單層標準的STEP測試測量，并檢測潛在的差異

COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀電解原理

簡單介紹：
COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀的儀器通過電解去除層來測量涂層厚度。 特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。 部署CSM2 STEP版本，用于單層標準的STEP測試測量，并檢測潛在的差異，例如在鎳多層質量控制中。同時測量涂層厚度和電化學電位根據(jù)庫侖法。

特征：
標準：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕點陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
可設置和儲存：50個應用程式、600個數(shù)據(jù)組；3 000個數(shù)據(jù)
統(tǒng)計：平均值、zui大值、zui小值、標準偏差、測量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg 
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm
COULOSCOPECMS
COULOSCOPECMS STEP
庫侖鍍層厚度測試儀
分步測量： 鍍層厚度和電位差
測量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等
COULOSCOPE CMS雙層鎳鍍層庫倫測厚儀基本配置：
儀器：Couloscope CMS
測量臺： V24、V26、V18 等 
電解液： F1 ～ F22
作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構， 當允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟的替代方法。 
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關緊要的。
——特征

——主要特征
1.使用高精度電解脫鍍技術（庫侖法）測量多層
2.易于操作的顯示和圖形支持的用戶指導
3.普遍適用于金屬和非金屬基材的測量，也適用于多層涂料
4.通過全面的附件組合適應具體要求
5.單涂層和多涂層系統(tǒng)的測量
6.圖形顯示，用于清晰的測量視圖，設定的涂層系統(tǒng)以及脫模速率和測試區(qū)域尺寸等參數(shù)。
7.液晶顯示屏上電池電壓的圖形顯示。
8.大多數(shù)金屬涂層的許多預定義的測量應用
9.可選擇的測量單位：μm或mils
10.歐洲，南美和亞洲的顯示語言

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