XRF6C能量射線熒光分析儀特點(diǎn)
（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測(cè)定有初級(jí)X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可以對(duì)試樣進(jìn)行多元素快速分析。

主要特點(diǎn)： 

. 準(zhǔn)確測(cè)定黃金、鉑金、銀飾品中的金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳、銥等元素含量，根據(jù)定義 給出符合國(guó)標(biāo) GB/T18043 要求的測(cè)試結(jié)果； 

. 自動(dòng)識(shí)別樣品類型，自動(dòng)切換不同類型首飾樣品的測(cè)試模式； 

. 儀器內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)樣品，具備自動(dòng)校正功能，開(kāi)機(jī)自動(dòng)完成能量刻度、標(biāo)準(zhǔn)曲線校正、預(yù)熱一系 列動(dòng)作，免除人為操作帶來(lái)的誤差和錯(cuò)誤； 

. 一鍵式測(cè)試操作，開(kāi)啟軟件并放入樣品后，按下一鍵即可完成測(cè)試獲得結(jié)果，免除所有繁瑣 復(fù)雜的手工設(shè)置和操作； 

. 具備高級(jí)自定義測(cè)試功能，開(kāi)放各種參數(shù)調(diào)試調(diào)整，可建立自定義標(biāo)準(zhǔn)曲線，可保存或?qū)?導(dǎo)出自定義的數(shù)據(jù)庫(kù)和測(cè)試模式。

1.XRF6C能量射線熒光分析儀特點(diǎn)

（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測(cè)定有初級(jí)X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可以對(duì)試樣進(jìn)行多元素快速分析。

• *多光束可調(diào)系統(tǒng)；

• 高分辨率SDD 硅漂移探測(cè)器；

• 快速定性分析；

• 完善的輻射安全防護(hù)；

• RoHS/WEEE 指令元素快速分析；

•  內(nèi)標(biāo)法與基本參數(shù)法組成強(qiáng)大定量分析方法群；

•  內(nèi)置各類標(biāo)準(zhǔn)樣品曲線數(shù)據(jù)庫(kù)。

2.XRF6C能量射線熒光分析儀參數(shù)

• 元素分析范圍：AI-U

•  含量分析范圍：1ppm~99.99%

• 重復(fù)性：＜5%

• 測(cè)量時(shí)間：一般60~300s

•  測(cè)量對(duì)象：塊狀物體、粉末、液體

•  激發(fā)功率：50W

• 探測(cè)器分辨率：149gev

• 輸入電源：AC110V/220V

•  高壓電源：0~50kv/0~1mA

• X射線輻射劑量：≤1Sv/h

3.能量射線熒光分析儀部分元素 在低數(shù)值中可檢出

代表性元素120s可檢出限LOD(mg/kg)

性能指標(biāo)