濺射原子化激光共振電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS）

儀器簡(jiǎn)介：

濺射原子化激光共振電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS) 

SIRIS分析步驟：

1、通過能量強(qiáng)大的離子束，解吸附和霧化（分離成原子）樣品的一小部分（濺射）。

2、在濺射過程中抑制離子形成。

3、濺射中性粒子的選擇性激光電離（共振電離光譜）。

4、離子的飛行時(shí)間質(zhì)譜分析。

技術(shù)參數(shù)：

濺射原子化激光共振電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)技術(shù)特點(diǎn)： 

1、激光系統(tǒng)包括Nd:YAG激光泵的二波長(zhǎng)可調(diào)激光器。

2、標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)包括可選擇微焦點(diǎn)離子槍（50 ?m光斑尺寸）或液態(tài)金屬離子槍（100nm光斑尺寸）；兩種離子槍都配作為一個(gè)選項(xiàng)。 x, y, z, ? 四維樣品操縱器，X、Y方向上的精度為亞微米級(jí)。

3、16方位輪播樣品臺(tái)。

4、靜電分析儀，從根本上消除了由于非選擇性表面電離的影響。

5、組合微通道板-閃爍器-光電倍增管，可獲得高增益檢測(cè)與*的脈沖高度分布。

6、一周的儀器操作培訓(xùn)和SIRIS數(shù)據(jù)分析培訓(xùn)。

主要特點(diǎn)：

濺射原子化激光共振電離時(shí)間質(zhì)譜儀（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer  SIRIS-TOFMS)

是一種新型微區(qū)定量高靈敏分析儀器。它集離子濺射、共振電離與飛行時(shí)間質(zhì)港等技術(shù)于一體，由于具有高電離效率、高靈敏性、高選擇性、適用范圍廣以及基體效應(yīng)小等特點(diǎn)，可以實(shí)現(xiàn)復(fù)雜樣品微區(qū)微量成份的定量分析。

廣泛應(yīng)用于核物理、地質(zhì)、礦產(chǎn)、鋼鐵、半導(dǎo)體材料、環(huán)境等許多領(lǐng)域。

我公司有超過25年的SIRIS研究和儀器化的經(jīng)驗(yàn)，提供完整的SIRIS儀器，目前已經(jīng)向*各個(gè)國(guó)家的科研機(jī)構(gòu)提供了幾十臺(tái)SIRIS-TOFMS儀器。