紫外輻照計執(zhí)行企業(yè)標準Q/HDSDY0003－2014。紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

產(chǎn)品簡介：
紫外輻照計執(zhí)行企業(yè)標準Q/HDSDY0003－2014。紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

產(chǎn)品特點：
光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關(guān)機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
整機功耗：約30mW
主要參數(shù)：
波長范圍λ1，峰值波長λp：（320～400）nm，λP＝365nm用戶二選一
波長范圍λ2，峰值波長λp：（375～475）nm，λP＝420nm
輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103) μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光：0.02%
相對示值誤差：±8％（相對于NIM標準）
角度響應特性：±5% （α≤10°） 
線性誤差：±1%
換檔誤差：±1%
短期不穩(wěn)定性：±1%（開機30min后）
疲勞特性：衰減量<2%
零值誤差：滿量程的±1%
響應時間：<1秒
使用環(huán)境：溫度(0-40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源：6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機功耗：＜0.1VA
裝箱清單：
讀數(shù)顯示單元1個
探頭1個
探頭蓋1個
數(shù)據(jù)線1個
說明書1份
合格證/保修單1個
9V積層電池1個
儀器包裝箱1個