實驗內(nèi)容：
學習測定氬原子的*激發(fā)電位的方法，證明原子分立態(tài)、原子能級的存在；
分析燈絲電壓、拒斥電壓等因素對F-H實驗曲線的影響。
技術參數(shù)：
夫蘭克—赫茲管供電電壓：
UG1K（加速電壓）DC1.3～5V；UG2A（拒拆電壓）DC1.3～15V；
UG2K（點測電壓）DC0～110V；UH（燈絲電壓）AC 0～6.3V。
鋸齒波掃描幅度：0～6V，鋸齒波掃描頻率：50Hz；
微電流測量范圍：1

實驗內(nèi)容：
學習測定氬原子的*激發(fā)電位的方法，證明原子分立態(tài)、原子能級的存在；
分析燈絲電壓、拒斥電壓等因素對F-H實驗曲線的影響。
技術參數(shù)：
夫蘭克—赫茲管供電電壓：
UG1K(加速電壓)DC1.3～5V；UG2A(拒拆電壓)DC1.3～15V；
UG2K(點測電壓)DC0～110V；UH(燈絲電壓)AC 0～6.3V。
鋸齒波掃描幅度：0～6V，鋸齒波掃描頻率：50Hz；
微電流測量范圍：10-9～10-8～10-7～10-6，4檔。  

實驗內(nèi)容：
學習測定氬原子的*激發(fā)電位的方法，證明原子分立態(tài)、原子能級的存在；
分析燈絲電壓、拒斥電壓等因素對F-H實驗曲線的影響。
技術參數(shù)：
夫蘭克—赫茲管供電電壓：
UG1K(加速電壓)DC1.3～5V；UG2A(拒拆電壓)DC1.3～15V；
UG2K(點測電壓)DC0～110V；UH(燈絲電壓)AC 0～6.3V。
鋸齒波掃描幅度：0～6V，鋸齒波掃描頻率：50Hz；
微電流測量范圍：10-9～10-8～10-7～10-6，4檔。