產(chǎn)品體積小，便于移動(dòng)和攜帶
無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率
無(wú)接觸、無(wú)損傷快速測(cè)試
測(cè)試前無(wú)需表面處理
津?qū)τ诙嗑?，能夠有效避免晶界?duì)測(cè)試的影響

無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀

無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇?、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。
無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
測(cè)試范圍廣，低阻可測(cè)至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm,高阻可測(cè)至100ohm.cm
產(chǎn)品體積小，便于移動(dòng)和攜帶
采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率
無(wú)接觸、無(wú)損傷快速測(cè)試
無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀測(cè)試前無(wú)需表面處理
津?qū)τ诙嗑В軌蛴行П苊饩Ы鐚?duì)測(cè)試的影響
測(cè)試范圍：0.001-100 ohm.cm （分段測(cè)試）
可選加無(wú)接觸PN型號(hào)測(cè)試功能
可進(jìn)行溫度和厚度的修正
無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-技術(shù)指標(biāo)
硅棒硅塊可測(cè)量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm
*小測(cè)試厚度：200μm
測(cè)量時(shí)間：2秒/次
*小測(cè)試面積：30x30 mm2
推薦使用溫度：20℃
濕度：≤80%
氣壓：86-106kPa
使用電壓：230±10V
頻率，50±3Hz
功率消耗：≤5W
尺寸（LxH）：280x200x60mm