Delphi熒光掃描電鏡面向廣大生物工作者，通過熒光快速定位，電鏡高倍觀察，并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實現(xiàn)在一張圖像中同時獲得樣品精細結構和功能物質信息，是生物圖像高效的解決方案;

Delphi熒光掃描電鏡，Delphi (德飛)，是荷蘭掃描電子顯微鏡制造商 Phenom-World 公司與荷蘭熒光顯微鏡制造商 Delmic 于 2014 年聯(lián)合推出的將熒光顯微鏡和掃描電鏡高度集成在一起的設備;
Delphi德飛面向廣大生物工作者，通過熒光快速定位，電鏡高倍觀察，并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實現(xiàn)在一張圖像中同時獲得樣品精細結構和功能物質信息，是生物圖像高效的解決方案;

Delphi熒光掃描電鏡，臺式熒光電鏡一體機
Delphi熒光掃描電鏡 Delphi (德飛)，是荷蘭掃描電子顯微鏡制造商 Phenom-World 公司與荷蘭熒光顯微鏡制造商 Delmic 于 2014 年聯(lián)合推出的將熒光顯微鏡和掃描電鏡高度集成在一起的設備;
功能簡介:德飛面向廣大生物工作者，通過熒光快速定位，電鏡高倍觀察，并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實現(xiàn)在一張圖像中同時獲得樣品精細結構和功能物質信息，是生物圖像高效的解決方案;
高效、簡單:德飛具有占地小，操作簡便，圖像自動重疊，軟硬件高度整合等優(yōu)點，是連接熒光和掃描電鏡的橋梁;
自動精準定位:飛納熒光掃描電鏡一體機 Delphi (德飛) 使用無縫切換技術，無需人工干預就能得到精度高達 200nm 的熒光和電子疊加照片;
電鏡不能感知熒光信號，光電關聯(lián)技術（CLEM）的難點在于樣品觀察點的定位，德飛（Delphi）使用圖像無縫切換技術，兩種光路對同一視野原位成像，成功解決了這個難題。德飛（Delphi）的電子束自動校準技術，無需人工干預就能得到精度高達50nm 的熒光和電子疊加照片，既節(jié)約了用戶的時間，又確保疊加圖像的可信度。

Delphi熒光掃描電鏡參數：
電鏡分辨率:優(yōu)于 14 nm
電子放大:gao到 130,000 倍
探測器:四分割背散射電子探測器
燈絲材料:1,500 小時 CeB6 燈絲
加速電壓:5 kV-10 kV連續(xù)可調
熒光分辨率:290 nm（在 550 nm 發(fā)射波長下）
熒光物鏡:平場復消色差物鏡 40X (NA0.95)
濾光片:DAPI, FITC, TRITC, Cy5 或者其他的
熒光彩色CCD相機:2,048X2,048 像素,像素尺寸 6.5 um
熒光光源:四通道 (LED) 激勵源,激發(fā)在 392/474/554/635 nm
重合精度:200 nm
載物臺:全自動馬達載物臺
抽真空時間:小于 60 秒
光學導航顯微鏡:放大 20-120 倍
功率:700 W

飛納的歷史：
1997 年，F(xiàn)EI 和飛利浦電子光學宣布合并其業(yè)務，其產品代表全*的電鏡技術。
2006 年，F(xiàn)EI 成立Phenom-World公司，發(fā)布第yi臺飛納臺式掃描電鏡（PhenomDesktop SEM)， 放大倍數10,000 倍， *使用高亮度 CeB6 燈絲。
2 0 1 2 年 3 月， K a r e lvander Mast 教授帶領原飛利浦電鏡部門精英研發(fā)出世界*電鏡能譜一體機，開創(chuàng)電鏡能譜設計新理念，兩年銷量 790 臺；同時推出粗糙度測量等功能性軟件。
2014 年 9 月，Phenom-World 推出新產品 Phenom XL， 樣品尺寸100*100 mm，可選配二次電子，同時推出孔徑測量統(tǒng)計系統(tǒng)。
2015 年，Phenom-World推出第 4 代產品，分辨率達到 14 納米，放大 13 萬倍；同年，Phenom-World 推出了世界*熒光電鏡一體機 Dephi，首將關聯(lián)電鏡技術發(fā)展成為臺式設計。
2017 年，Phenom-World推出 Phenom Pro-2017，分辨率達到 7 納米， 放大15 萬倍。同時發(fā)布可用于Phenom XL 全自動顯微平臺的 U 中心樣品臺（Eucentricstage) 和 1000N 拉伸臺(Tensile stage) 。

飛納：數秒之內，遍覽微觀世界
快捷，出眾，可靠的電鏡成像分析設備臺式掃描電子顯微鏡設計，創(chuàng)新型用戶使用界面，直觀的觸控設置提供在諸多領域中要求的高分辨率以及高質量分析成像。高性價比、操作簡便、快速成像的飛納臺式掃描電鏡成為工程師，技術員，研究員以及科教專家觀測微米以及納米結構的青睞
?gao放大15 萬倍，分辨率優(yōu)于7 nm
?長壽命(1,500 小時)/ 高亮度/ 低色差CeB6 燈絲
?表面細節(jié)豐富的高質量圖片
?內置彩色光學顯微鏡
?自動馬達樣品臺，光學與低倍電子雙重導航
?15 秒快速抽真空，操作簡單
?防震設計，對放置環(huán)境無特殊要求
?樣品倉低真空技術，直接觀測絕緣體，無需噴金

飛納電鏡共有特點：
■ 分辨率高的臺式掃描電鏡--飛納使用CeB6 燈絲：CeB6 燈絲鎢燈絲成像效果高質量、大景深圖片（復旦大學ZnO） 150,000 倍圖像相同參數下CeB6 成像效果CeB6 燈絲的信號是鎢燈絲的10 倍，信號更多，色差更低。
■ 使用CeB6 燈絲的電鏡，成像和能譜的分辨率均優(yōu)于同類鎢燈絲電鏡10nm@10kV（背散射電子探測器）；7nm@10kV（二次電子探測器）使用CeB6 燈絲，低加速電壓成像優(yōu)勢明顯，圖像細節(jié)豐富：飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM) 使用高亮度的CeB6 燈絲，工作溫度低，電子逸出功小，束斑直徑小，能在 5KV 低加速電壓下穩(wěn)定成像，在保證圖像分辨率的前提下，減輕高加速電壓帶給圖像的穿透效應，同時減少電子束對樣品表面的損傷。
■ 使用CeB6 燈絲，1,500 小時壽命，2-3 年更換一根燈絲，后期維護簡單
■ 高靈敏度四分割背散射電子，形貌& 成分兩種成像模式（飛納臺式掃描電鏡（Phenom DesktopSEM) 采用四分割背散射電子探測器，給出樣品成分和形貌信息，為您提供兩種成像模式，飛納臺式掃描電鏡（Phenom DesktopSEM，可以快速的在兩種成像模式間任意切換。）
成份模式（Full mode）:同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其對比度的不同加以分辨。
形貌模式（Topographical mode）: 在圖像中去除了成份不同所造成的差異，強化樣品的3D 信息，使樣品表面的凹凸起伏等微觀結構更加明晰。尤其適用于表面粗糙度和缺陷分析。
■ 高效 + 簡便的掃描電鏡
■ 一步制樣，快速成像，實現(xiàn)課題組或者工廠批量測試目標（ 15 秒快速抽真空）
■ 不噴金，直接觀察絕緣體：飛納臺式掃描電鏡（PhenomDesktop SEM) 采用低真空技術，背散射電子成像，可以有效抑制荷電效應的產生，使得直接觀測各種不導電樣品，樣品無需噴金噴碳。利用降低荷電效應樣品杯，更可將起始荷電的放大倍數提高8 倍左右。
■ 內置高精度自動馬達樣品臺，輕松移動樣品觀測區(qū)域：飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）*的光學/ 低倍SEM 導航功能，為您全程提供全部/ 局部待測樣品的導航圖像，點擊您感興趣的區(qū)域即可準確移動樣品，不必再頻繁縮小、放大圖像，方便您在不同樣品、同一樣品不同區(qū)域之間切換，輕松實現(xiàn)想看哪里點哪里。
■ 飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）分為光學顯微鏡和電子顯微鏡，通過光學顯微鏡會生成光學導航界面，提供樣品全景導航，同時結合自動馬達樣品臺快速移動樣品功能，實現(xiàn)為用戶提供樣品全程導航。
■ 飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）結合控制旋鈕和高性能顯示屏調節(jié)SEM 圖像，輕松點擊您想觀測的區(qū)域即可快速定位利用控制旋鈕和鼠標點擊您可完成以下操作：
自動/ 手動聚焦
自動/ 手動亮度對比度調節(jié)
自動/ 手動燈絲對中調節(jié)
自動樣品移動
■ 光學與低倍電子雙重導航，準確定位觀測區(qū)域：飛納臺式掃描電鏡（Phenom DesktopSEM）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節(jié)、旋轉等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM 導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區(qū)域間進行切換。飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）*的光學導航和低倍SEM 導航窗口，導航窗口中的彩色矩形框指示了主窗口中的觀測區(qū)域。
■ 專業(yè)的防震技術（安裝簡單，不受外界環(huán)境干擾）：您可以根據需要來放置飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM），如高層實驗室、辦公室，或與其他設備放在一起，如廠房、車間，甚至一輛車上。同時飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）專業(yè)的防震技術，可進行現(xiàn)場取樣觀察。
■ 可靠、方便的維護：*的遠程聯(lián)網檢測，原廠工程師與您一起維護電鏡，實時確認故障原因，迅速準備配件。荷蘭 Phenom-World 公司的售后服務團隊可通過互聯(lián)網檢測用戶電鏡的使用狀態(tài)，與用戶一起維護電鏡，確保電鏡總是處于良好狀態(tài)。
■ 適用于不同領域的載樣樣品杯：溫度控制樣品杯（冷臺+ 熱臺）（選配）：飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM) 樣品杯和低真空設計，耗時僅為傳統(tǒng)電鏡的1/10，*提高工作效率。自動控溫，適用于生物、有機等樣品，使樣品減少水分的蒸發(fā)，得以保持原貌，并且減少電子束對樣品的損傷，延長觀看時間。
大樣品尺寸：直徑25mm；高5mm
控溫范圍：-25℃～ +50℃　
自動傾斜/ 旋轉樣品杯（選配）：內置微型馬達，計算機控制傾斜、旋轉角度，為您呈現(xiàn)樣品的隱藏特征，展現(xiàn)3D 圖像效果。
大樣品尺寸：直徑12 mm；高度5 mm
傾斜角度：-10° ~+45°
旋轉角度：360°連續(xù)
適用于不同領域的樣品杯
標準樣品杯
適用于高分辨率成像，可用于觀測粉末，薄膜，及各種
不規(guī)則形狀的三維樣品。
大樣品尺寸：直徑25 mm；高30 mm
降低荷電效應樣品杯（選配）
無需噴金，可以直接觀察不導電樣品，從而獲得
樣品的原始形貌和成份信息。
大樣品尺寸：直徑25 mm；高30 mm
超大樣品臺（標配，僅適用于 Phenom XL）
Phenom XL 電鏡腔室由原來的直徑32 mm 擴容為100
mm x 100 mm，一次可容納至少36 個1/2 英寸樣品臺
大樣品尺寸：長100 mm；寬100mm ；
高度： 40 mm　　
標準/ 降低荷電效應金相樣品杯（選配）
在顯微圖像觀測中，獲得表面平滑的樣品的常規(guī)辦法是鑲嵌和拋光等技術。金相樣品杯可用于觀測鑲嵌在樹脂等材料中的樣品。
大樣品尺寸：直徑32 mm；高30 mm
微型電子器件插件（選配）
用特制夾具將微型電子器件無損的固定在樣品杯中。測試后，樣品可以重新回到制備環(huán)節(jié)中去，無損耗。
配套金相樣品杯使用
X- 斷面觀測插件（選配）
適合于涂層以及多層半導體器件等斷口、斷面的觀測，且不需要螺絲等其它工具來固定樣品。
配套金相樣品杯使用
豐富的拓展功能：Phenom ProSuite 應用模塊
Phenom ProSuite 是專為飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM) 設計的應用模塊，其開發(fā)目的是使用戶可以從飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）的SEM 圖像中提取更多信息，拓展飛納臺式掃描電鏡（PhenomDesktop SEM）的應用，滿足特定的用戶需求。
超大視野圖像拼合
應用超大視野圖像拼合模塊可以得到大范圍的高分辨圖像。用戶只需在總覽圖中定義掃描區(qū)域，該模塊將自動開始以的分辨率對該區(qū)域進行掃描。所得圖像將拼合成一副全景圖像加以保存，方便進行進一步的觀測。
主要特點：
大８.07mm 的超大視野（FOV），完整呈現(xiàn)樣品全貌
自動采集圖像，每分鐘可采集超過100 張1,024 x 1,024
分辨率的圖像
可與纖維系統(tǒng)聯(lián)用
高達1 億像素的超高分辨率
簡明的單頁用戶界面，操作簡便
孔徑分析測量系統(tǒng)（選配）
孔洞分析（PoroMetric）軟件可以搜集孔的分布數據，提供全自動的孔徑、形狀、尺寸、數量和分布分析；測量數據、柱狀圖和生成的圖片可以根據選擇的格式輸出在報告里。利用飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）和孔洞分析（PoroMetric）軟件，孔洞的可視化分析將更加簡單。
適用領域：過濾/ 篩網行業(yè)、泡沫行業(yè)、陶瓷行業(yè)、制藥行業(yè)、無紡布行業(yè)等；
孔洞測量系統(tǒng)的功能
1. 進行孔洞分析
孔洞尺寸范圍：100nm~0.1mm
孔洞檢測速度：高達 1,000 個/ 分鐘
孔洞測量屬性：尺寸、形狀、數量
2. 可以測量的孔洞參數
面積、當量圓直徑、長寬比
長軸長度和短軸長度（橢圓）
3. 提供的圖形/ 數據顯示
按當量直徑的柱狀圖
所有孔洞的各項參數值
所有孔洞的平均參數值
4. 提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報告
TIFF 格式的圖像
CSV 文件
離線分析的項目文件（.POME）

顆粒測量系統(tǒng)（選配）
顆粒測量系統(tǒng)（ParticleMetric）是一款基于飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）的顆粒分析系統(tǒng)，用于實現(xiàn)顆
?？梢暬治?，由Phenom-World 公司歷經3 年研發(fā)，于2013 年11 月1 日在荷蘭發(fā)布。
顆粒測量系統(tǒng)的功能
1. 進行顆粒分析
顆粒尺寸范圍：100nm~0.1mm
顆粒探測速度：高達 1,000 個/ 分鐘
顆粒測量屬性：大小、形狀、數量
2. 可以測量的顆粒參數
面積、當量直徑、外接圓直徑、表面積、周長、寬高比
充實度、伸長率、灰度等級、長軸長度和短軸長度（橢圓）
凸殼體、重心、像素點數、凸狀物
3. 提供的圖形顯示
按數量或體積的線性、對數、雙對數點狀圖
任何參數的散點圖
單個顆粒的 SEM 圖像
4. 提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報告，TIFF 格式的圖像CSV 文件，離線分析的項目文件（.PAME）
配合高倍拼圖軟件，可實現(xiàn)全樣品顆粒分析
顆粒分析系統(tǒng)界面
適用領域：化妝品、食品、化工、制藥、陶瓷等行業(yè)；顆粒以及表面涂層；顆粒狀添加劑；環(huán)境顆粒；過濾/ 篩網等
顆粒系統(tǒng)可根據實際需要生成“散點統(tǒng)計圖”或“柱狀統(tǒng)計圖”。同時能夠給出每個顆粒的所有參數，也能給出所有顆粒的各項平均、中位參數值。
顆粒分散設備
用 Nebula Ⅰ 可以在 SEM 樣品臺上實現(xiàn)干粉均勻分散，可以獲取單層顆粒，同時避免顆粒的團聚，保持顆粒的結構完整，為用戶提供制樣方法，獲得更好的顆粒分析結果。
Nebula Ⅰ 參數
粉末尺寸范圍：0.1~1,500 μm
分散真空度范圍：0~0.8 Bar
壓力設置精度：0.05 Bar
3D 粗糙度重建（選配） 經典軟件
3D 粗糙度重建模塊（3D Roughness Reconstruction）是飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM) *的強大圖像處理工具。借助3D 粗糙度重建模塊，飛納臺式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）可以產生樣品的3D 還原圖，對其進行任意旋轉，并進行亞微米量級的粗糙度測量。
主要技術參數：
1. 自動實時創(chuàng)建3D 圖像
全 3D 圖像
2D 或 3D 圖像，通過顏色指示高度
過濾后的 3D 圖像
2. 自動粗糙度測量
Ra（平均粗糙度）和 Rz（粗糙高度）
用戶設定波紋過濾
支持 5 線同時測量
支持面粗糙度測量
3. 自動生成統(tǒng)計信息CSV 文件
4. 觀測視野 (FOV) 10μm ～ 2mm
纖維系統(tǒng)（選配） 經典軟件
纖維系統(tǒng)（FiberMetric）可以測量從納米到亞微米量級的纖維，數秒之內采集數百纖維的直徑信息，每個數據點均經過50 次測量取平均值。根據統(tǒng)計信息自動生成纖維直徑分布柱狀圖，并導出數據文件。
應用領域： 過濾、紡織、纖維、造紙、煙草、光纖等研究領域
纖維系統(tǒng)主要特點：
自動測量，節(jié)省時間
自動生成統(tǒng)計數據
與飛納電鏡同步，實時測量
輸出：
xml 數據文件（包括直徑測量和孔徑測量）
JPEG、TIFF 格式圖片
大 2,048 x 2,048 圖像分辨率
纖維尺寸分布統(tǒng)計圖
小、大及平均纖維尺寸