Leica的EM TXP是一款多功能機(jī)械修塊研磨拋光機(jī)，精研一體機(jī)適用于對(duì)目標(biāo)定位，進(jìn)行銑削，切割，沖鉆，研磨，修塊及拋光等。特別適合于對(duì)樣品微小目標(biāo)的精細(xì)定位、切割等加工。其主要功能為：可用于光鏡觀察前樣品切割、機(jī)械拋光等制備；可用于EM TIC 3X / EMUC7樣品前制備，對(duì)樣品進(jìn)行機(jī)械修塊；還可用于EM RES101樣品前制備，獲得3mm樣品圓片（兩面平行，厚度可達(dá)1μm量級(jí)）。

精研一體機(jī)技術(shù)參數(shù):

· 工具前進(jìn)步進(jìn)：100μm，10μm，1μm及0.5μm可選。顯示進(jìn)程，并具有快進(jìn)和撤回功能

· 工具軸承轉(zhuǎn)速：300~ 20000rpm可調(diào)

· 具有自動(dòng)進(jìn)程倒計(jì)數(shù)，自動(dòng)時(shí)間倒計(jì)時(shí)功能，具有自動(dòng)應(yīng)力反饋功能

· 樣品處理過(guò)程可由蠕動(dòng)泵自動(dòng)泵取冷卻液/研磨液，并可接吸塵器

· 帶有體視鏡觀察系統(tǒng)，LED環(huán)形照明，4分格，帶有坐標(biāo)尺，可接攝像頭

· 可選工具: 切割鋸片，銑刀，拋光片，3mm 空心鉆

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LEICA EM TXP
是一款*的可對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對(duì)樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對(duì)目標(biāo)精細(xì)定位或需對(duì)肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了 Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。
在 Leica EM TXP 之前，針對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行定點(diǎn)切割，研磨或拋光等通常是一項(xiàng)耗時(shí)耗力，很困難的工作，因?yàn)槟繕?biāo)區(qū)域極易丟失或者由于目標(biāo)尺寸太小而難以處理。使用  Leica EM TXP ，此類樣品都可被輕易處理完成。
另外，借助其多功能的特點(diǎn)，Leica  EM  TXP  也是一款可為離子束研磨技術(shù)和超薄切片技術(shù)服務(wù)的*效的前制樣工具。
與觀察體系合為一體在顯微鏡下觀察整個(gè)樣品處理過(guò)程和目標(biāo)區(qū)域?qū)悠饭潭ㄔ跇悠窇冶凵?，在樣品處理過(guò)程中，通過(guò)立體顯微鏡可對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，觀察角度0°至60°可調(diào)，或者調(diào)至 -30°，則可通過(guò)目鏡標(biāo)尺進(jìn)行距離測(cè)量。Leica EM TXP 還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以便獲得*視覺(jué)觀察效果。

 > 對(duì)微小目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位和樣品制備
>  通過(guò)立體顯微鏡實(shí)現(xiàn)原位觀察
>  多功能化機(jī)械處理
>  自動(dòng)化樣品處理過(guò)程控制
>  可獲得平如鏡面的拋光效果
>  LED 環(huán)形光源亮度可調(diào)，4分割區(qū)段可選

多種方式制備處理樣品
樣品無(wú)需轉(zhuǎn)移，只需切換工具不需要來(lái)回轉(zhuǎn)移樣品，只需要簡(jiǎn)單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過(guò)程，并且樣品處理全過(guò)程都可通過(guò)顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。出于安全考慮，工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋€(gè)透明的安全罩，可避免在樣品處理過(guò)程中操作者不小心觸碰到運(yùn)轉(zhuǎn)部件，又可防止碎屑飛濺。

LEICA EM TXP可對(duì)樣品進(jìn)行如下處理：
>  銑削   
>  切割
>  研磨
>  拋光
>  沖鉆