一、液體表面電阻率測(cè)量?jī)x 儀器介紹：
BEST-121型絕緣電阻測(cè)量?jī)x用于測(cè)量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；與恒溫水浴配套后，還能測(cè)量不同溫度下的塑料電線電纜（無(wú)屏蔽層）的絕緣電阻。
該儀器具有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、輸入端高壓短路等優(yōu)點(diǎn)，儀器的zui高量程 1018Ω電阻值（測(cè)試電壓為 1000V）
二、液體表面電阻率測(cè)量?jī)x 使用條件
①環(huán)境溫度： 0～40℃
②相對(duì)溫度：≤70%
③供電電流：交流 220V±10%50Hz
三、溫度影響
溫度對(duì)不同物質(zhì)的電阻值均有不同的影晌。
導(dǎo)電體 在接近室溫的溫度，良導(dǎo)體的電阻值，通常與溫度成線性關(guān)系：
ρ=ρ0(1+αt)
上式中的 a 稱為電阻的溫度系數(shù)。
未經(jīng)摻雜的半導(dǎo)體的電阻隨溫度升高而下降：
有摻雜的半導(dǎo)體變化較為復(fù)雜。當(dāng)溫度從jue對(duì)零度上升，半導(dǎo)體的電阻先是減少，到了絕大部分的帶電粒子 （電子或電洞/空穴） 離開了它們的載體后，電阻會(huì)因帶電粒子的活動(dòng)力下降而隨溫度稍為上升。當(dāng)溫度升得更高，半導(dǎo)體會(huì)產(chǎn)生新的載體 （和未經(jīng)摻雜的半導(dǎo)體一樣） ，原有的載體 （因滲雜而產(chǎn)生者） 重要性下降，于是電阻會(huì)再度下降。
絕緣體和電解質(zhì) 絕緣體和電解質(zhì)的電阻與溫度的關(guān)系一般不成比例，而且不同物質(zhì)有不同的變化，故不在此列出概括性的算式。
四、技術(shù)要求
01測(cè)試電壓（V）
DC—10V
DC—50V
DC—100V
DC—500V
DC—1000V
02電阻測(cè)量范圍：1×104Ω ～1×1018 Ω
03電流測(cè)量范圍：2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ
04顯示方式：數(shù)字液晶顯示
05基本準(zhǔn)確度1% （*注表1)
06使用環(huán)境溫度：0℃～40℃，相對(duì)濕度<80%
07供電形式AC 220V，50HZ，功耗約5W
08儀器尺寸285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm
09儀器質(zhì)量約6KG
表1：準(zhǔn)確度優(yōu)于下表
量程 有效顯示范圍 20～30℃ RH<80%
104 0.01~19.99 5%
105 0.01～19.99 5%
106 0.01～19.99 5%
107 0.01～19.99 5%
108 0.01～19.99 5%
109 0.01～19.99 5%
1010 0.01～19.99 5%+2字
1011 0.01～19.99 5%+2字
1012 0.01～19.99 5%+5字
1013 0.01～19.99 10%+5字
1014 0.01～19.99 10%+5字
1014以上 0.01～19.99 10-15%+5字
超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加，測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同，測(cè)試電壓準(zhǔn)確度為 10%
五、標(biāo)準(zhǔn)配置：
A 1、儀器主機(jī) 一臺(tái)
A 2、屏蔽箱一個(gè)
A 3、試驗(yàn)電極三個(gè)
A 4、說(shuō)明書一本
A 5、電源線一條
A 6、數(shù)據(jù)線三條
A 7、合格證一份
A 8、保修卡一份
六、表面電阻 surface resistance在試樣的其表面上的兩電極間所加電壓與在規(guī)定的電化時(shí)間里流過兩電極間的電流之商，在兩電極上 可能形 成的極化忽略不計(jì) 。
注 1:除 非 另 有 規(guī) 定 ，表 面 電 阻 是 在 電 化 一 分 鐘 后 測(cè) 定
注 2 通常電流主要流過試樣的一個(gè)表面層，但也包括流過試樣體積內(nèi)的成分
七、表面電阻率 surface resistivity在絕緣材料的表面層里的直流電場(chǎng)強(qiáng)度與線電流密度之商，即單位面積內(nèi)的表面電阻。面積的大小是不重要的。
注 :表 面 電 阻 率 的 S1單 位 是 Q。實(shí) 際 上 有 時(shí) 也 用 “歐 每 平 方 單 位 ”來(lái) 表 示 。
八、標(biāo)準(zhǔn)：《 塑料薄膜電阻率測(cè)定儀固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》
GB/T 1410-2006本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的試驗(yàn)方法。這些試驗(yàn)方法包括對(duì)固體絕緣材料體積電阻和表面電阻的測(cè)定程序及體積電阻率和表面電阻率的計(jì)算方法。
體積電阻和表面電阻的試驗(yàn)都受到下列因素影響:施加電壓的大小和時(shí)間;電極的性質(zhì)和尺寸;在試樣處理和測(cè)試過程中周圍大氣條件和試樣的溫度、濕度 。
a) 測(cè)量體積電阻率線路
①— 被保護(hù)電極;
②— 保護(hù)電極;
③一一不保護(hù)電極。
b 測(cè)量表面電阻率線路
①— 被保護(hù)電極;
② 不保護(hù)電極;
③一一保護(hù)電極。
圖 1 使用保護(hù)電極測(cè)f體積 電阻率和表面 電阻率的基本線路
用 作 測(cè) 量 表 面 電 阻 時(shí) 按 圖 1b)聯(lián) 接 試 樣
圖 5 用來(lái)測(cè)且體積電阻的伏安法線路
用作側(cè)量表面電阻時(shí)按圖1b)聯(lián)接試樣
圖 6 用于測(cè)f體積 電阻的惠斯登電橋法
用作測(cè)量表面電阻時(shí)按圖1b聯(lián)接試樣
圖 7 用作測(cè)量體積電阻的檢流計(jì)法
意義
1 通常，絕緣材料用于將電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對(duì)地絕緣；固體絕緣材料還起機(jī)械支撐作用。
對(duì)于這些用途，一般都希望材料具有盡可能高的絕緣電阻，有均勻*的、得到認(rèn)可的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能。表面電阻隨濕度變化很快，而體積電阻隨溫度變化卻很慢，盡管其終的變化也許較大。
2體積電阻率能被用作選擇特定用途絕緣材料的一個(gè)參數(shù)。電阻率隨溫度和濕度的變化顯著變
化，因此在為一些運(yùn)行條件而設(shè)計(jì)時(shí)必須對(duì)其了解。體積電阻率測(cè)通常被用于檢查絕緣材料生產(chǎn)是否始終如一，或檢測(cè)能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測(cè)到的導(dǎo)電雜質(zhì)。
3當(dāng)一直流電壓加在與試樣相接觸的兩電極之間時(shí)，通過式樣的電流會(huì)減小到一個(gè)穩(wěn)定值。
電流隨時(shí)間的減小可能是由于電介質(zhì)極化和可動(dòng)離子位移到電極所致。對(duì)于體積電阻率小于
10Ω·m的材料，其穩(wěn)定狀態(tài)通常在一分鐘內(nèi)達(dá)到，因此，經(jīng)過這個(gè)電化時(shí)間后測(cè)定電阻。對(duì)于體積電阻率較高的材料，電流減小的過程可能會(huì)持續(xù)到幾分鐘、幾小時(shí)、幾天甚至幾星期。因此對(duì)于這樣的材料，采用較長(zhǎng)的電化時(shí)問，且如果合適，可用體積電阻率與時(shí)闖煞關(guān)系束籀述材料的特性。
4 由于或多或少的體積電導(dǎo)總是要被包括到表面電導(dǎo)測(cè)試中去，因此不能精確只能近似的測(cè)量表面電阻或表面電導(dǎo)。測(cè)得的值主要反映被測(cè)試樣表面污染的特性。而且試樣的電容率影響污染物質(zhì)的沉積，它們的導(dǎo)電能力受試樣的表面特性所影響。因此表面電阻率不是一個(gè)真正意義的材料特性，而是材料表面含有污染物質(zhì)時(shí)與材料特性有關(guān)的一個(gè)參數(shù)。
某些材料如層壓材料在表面層和內(nèi)部可能有很不同的電阻事。因此測(cè)量清潔的表面的內(nèi)在性能是有意義的。應(yīng)完整地規(guī)定為獲得*的結(jié)果而進(jìn)行清潔處理的程序，并要記錄清潔過程中溶劑或其他因素對(duì)于表面特性可能產(chǎn)生的影響。
表面電阻，特別是當(dāng)它較高時(shí)，常以不規(guī)則方式變化，且通常非常依賴于電化時(shí)闖。因此，測(cè)量時(shí)通常規(guī)定一分鐘的電化時(shí)間。
小知識(shí)：
1、微分電阻
如電阻跟隨電壓及電流變動(dòng)，則可定義微分電阻為：
dU
r=--
dI
微分電阻的單位仍為歐姆，惟微分電阻值與基本的電阻值并不*。微分電阻值有可能因有關(guān)儀器的特性而出現(xiàn)負(fù)值，稱為負(fù)電阻。然而，基本電阻 （即電壓與電流的商） 永遠(yuǎn)為正值。
2、電阻率的計(jì)算公式為：
ρL
R= —
S
ρ為電阻率——常用單位Ω·mm2/m
S為橫截面積——常用單位㎡
R為電阻值——常用單位Ω
L為導(dǎo)線的長(zhǎng)度——常用單位m
