三坐標(biāo)檢測(cè)是檢驗(yàn)工件的一種精密測(cè)量方法。CMM三坐標(biāo)能檢測(cè)平行度公差、垂直度公差、同軸度公差、對(duì)稱度公差、位置度公差、傾斜度公差、圓跳動(dòng)公差、全跳動(dòng)公差、直線度公差、圓度公差、平面度公差、線輪廓度公差、面輪廓度公差等各種復(fù)雜的長(zhǎng)度尺寸和形位尺寸，是零件檢驗(yàn)的重要方式。

 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的使用方法

       三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)稱CMM，自六十年代中期一臺(tái)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x問(wèn)世以來(lái)，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步以及電子控制系統(tǒng)、檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，為測(cè)量機(jī)向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。CMM按測(cè)量方式可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量以及接觸和非接觸并用式測(cè)量，接觸測(cè)量常于測(cè)量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。本文以接觸式測(cè)量機(jī)為例來(lái)說(shuō)明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點(diǎn)的幾種方法，數(shù)據(jù)點(diǎn)結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描指借助測(cè)量機(jī)應(yīng)用軟件在被測(cè)物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集。

       此區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類型與測(cè)量模式、測(cè)頭類型及是否有CAD文件等有關(guān)，狀態(tài)按紐（手動(dòng)/DCC）決定了屏幕上可選用的“掃描”（SCAN）選項(xiàng)。若 ”（CLOSED LINEAR）、“面片”（PATCH）、“截面”（SECTION）及“周線”（PERIMETER）掃描。若用DCC方式測(cè)量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 “開(kāi)線”（OPEN LINEAR）、“閉線”（CLOSED LINEAR）和“面片”（PATCH）掃描方式。若用手動(dòng)測(cè)量模式，那么只能用基本的“手動(dòng)觸發(fā)掃描”（MANUL TTP SCAN）方式。若在手動(dòng)測(cè)量方式，測(cè)頭為剛性測(cè)頭，那么可用選項(xiàng)為“固定間隔”（FIXED DELTA）、“變化間隔”（VARIABLE DELTA）、“時(shí)間間隔”（TIME DELTA）和“主體軸向掃描”（BODY AXIS SCAN）方式。

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