ZMK-RC-3000型電阻法（庫爾特）顆粒計(jì)數(shù)器是根據(jù)小孔電阻原理，又稱庫爾特原理，測(cè)量顆粒大小的。由于原理上它是先逐個(gè)測(cè)量每個(gè)顆粒的大小，然后再統(tǒng)計(jì)出粒度分布的，因而分辨率很高，并能給出顆粒的數(shù)目。

電阻法（庫爾特）顆粒計(jì)數(shù)器/粒度儀  型號(hào)：ZMK-RC-3000

儀器簡介：

ZMK-RC-3000型電阻法（庫爾特）顆粒計(jì)數(shù)器是根據(jù)小孔電阻原理，又稱庫爾特原理，測(cè)量顆粒大小的。由于原理上它是先逐個(gè)測(cè)量每個(gè)顆粒的大小，然后再統(tǒng)計(jì)出粒度分布的，因而分辨率很高，并能給出顆粒的數(shù)目。其zui高分辨率（通道數(shù)）取決于儀器的電子系統(tǒng)對(duì)脈沖高度的測(cè)量精度。該儀器特別適合測(cè)量的對(duì)象有：1. 對(duì)分辨率要求很高，或者對(duì)粒度分布寬度特別關(guān)注的粉體，例如磨料微粉、復(fù)印粉等。2. 液體中的稀少顆粒。

技術(shù)參數(shù)：

ZMK-RC-3000型電阻法（庫爾特）顆粒計(jì)數(shù)器/粒度儀 
1. 測(cè)試范圍：1-256μm 
2. 重復(fù)性誤差：<2% 
3. 測(cè)試時(shí)間： 15秒 
4. 通道數(shù)：8192 
5. 輸出項(xiàng)目：粒度分布表、粒度分布曲線、平均粒徑、中值粒徑、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、比表面積、顆粒個(gè)數(shù)

主要特點(diǎn)：

ZMK-RC-3000型電阻法（庫爾特）顆粒計(jì)數(shù)器/粒度儀 
1. 采用的ARM 技術(shù)實(shí)現(xiàn)儀器一體化設(shè)計(jì)，將原先分立的測(cè)量單元、計(jì)算機(jī)、示波器集成在一個(gè)單元內(nèi)，外觀和使用的方便性均*提高。 
2. 采用*的脈沖峰值檢測(cè)技術(shù)，使儀器內(nèi)在通道數(shù)達(dá)到8000多個(gè)。 
3. 用現(xiàn)代的壓力傳感器替代傳統(tǒng)的水銀壓力計(jì)，使真空度的測(cè)量和控制更加精確，自動(dòng)化程度進(jìn)一步提高。 
4. 采用專有的光電液位測(cè)量技術(shù)，使容積的計(jì)量更準(zhǔn)確，更可靠。 
5. 增加自動(dòng)排堵功能，使令人煩惱的堵孔故障得到較好地解決。 
6. 采用*的電平自動(dòng)平衡技術(shù)，降低了測(cè)試結(jié)果對(duì)測(cè)量介質(zhì)（電解液）電導(dǎo)率的敏感度，使操作更加方便

    
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