HEKA EIProscan是一臺掃描探針顯微鏡，它是研究樣品表面電化學(xué)活性的強(qiáng)有力的工具。該系統(tǒng)包括三個(gè)主要部分：定位裝置、雙恒電位儀及數(shù)據(jù)采集/分析單元。定位裝置實(shí)現(xiàn)探針在樣品表面的掃描和精確定位，這與一般的掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)相同。

儀器簡介：

HEKA EIProscan是一臺掃描探針顯微鏡，它是研究樣品表面電化學(xué)活性的強(qiáng)有力的工具。該系統(tǒng)包括三個(gè)主要部分：定位裝置、雙恒電位儀及數(shù)據(jù)采集/分析單元。定位裝置實(shí)現(xiàn)探針在樣品表面的掃描和精確定位，這與一般的掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）相同。
EIProscan與普通的SECM的差別在于：EIProscan采用FPP（free programmable pulse）協(xié)議可對探針執(zhí)行任意的電化學(xué)方法，基于該協(xié)議，可在樣品進(jìn)行電化學(xué)測試的同時(shí)對探針施加與樣品相同的電信號，該方法對于電活性表面的微觀修飾及材料對于電擾動的響應(yīng)等研究非常重要。
EIProscan系統(tǒng)的應(yīng)用面非常廣，除基礎(chǔ)的表面成像外，還能進(jìn)行電荷傳遞反應(yīng)、均相反應(yīng)、液/液界面反應(yīng)等基礎(chǔ)研究，材料選型、微區(qū)pH分布、微區(qū)腐蝕監(jiān)測及電化學(xué)刻蝕等應(yīng)用研究。
EIProscan是一套高度集成、控制非常簡單的儀器，硬件采用研究級的高檔配置，所有功能通過軟件執(zhí)行。
與EIProscan配套的雙恒電位儀的測量電流達(dá)到2A，并可用于其他的電化學(xué)測試，如RRDE。.
EIProscan小電流測試能力也非常出色，通過內(nèi)置的小電流放大器可檢測p*電流。
EIProscan定位系統(tǒng)的特點(diǎn)是具有大掃描范圍和納米級的位移分辨率。微觀電化學(xué)實(shí)驗(yàn)中，探針位置的確定決定著實(shí)驗(yàn)的成敗，EIProscan采用步進(jìn)馬達(dá)和壓電材料的結(jié)合既保證了實(shí)驗(yàn)的精度和重現(xiàn)性，又提高了位移的速度。

技術(shù)參數(shù)：

獨(dú)立于PC操作系統(tǒng)的32位實(shí)時(shí)處理器綜合線性解碼和采樣點(diǎn)的數(shù)據(jù)得出探針的相對位置。
高精度步進(jìn)馬達(dá)的一次步進(jìn)精度為10nm,Z方向使用額外的壓電元件，可以達(dá)到1.5nm的精度。

掃描的速度范圍為15nm-100um/s。
大掃描范圍
各方向掃描范圍為100x100x50mm。

恒速掃描
通過實(shí)時(shí)速度監(jiān)測實(shí)現(xiàn)。
掃描控制
獨(dú)立于PC操作系統(tǒng)的32位實(shí)時(shí)處理器綜合線性解碼和采樣點(diǎn)的數(shù)據(jù)得出探針的相對位置。
高精度和普通步進(jìn)馬達(dá)的一次步進(jìn)精度為15nm和100nm。掃描的速度范圍為15nm-100um/s。
大掃描范圍
各方向掃描范圍為50mm。
雙恒電位儀實(shí)現(xiàn)全軟件控制
雙恒電位儀由Windows界面的POTPULSE軟件控制，實(shí)驗(yàn)設(shè)置與實(shí)驗(yàn)結(jié)果同時(shí)儲存便于進(jìn)一步分析。
低噪聲電流測試
對于亞微米尺度的探針，其表面通過的法拉第電流非常的小，這就對電流放大器的要求非常高。PG340型雙恒電位儀配備的低噪聲電流放大器通過特制的微電極支架與電極連接大大降低了電流噪聲，可檢測低至p*的電流。
開路電位測試
真實(shí)開路電位的測量通過滅活對電極實(shí)現(xiàn)，四電極模式下可測量探針和樣品的開路電位。
電流和電位的記錄
掃描過程實(shí)時(shí)記錄探針和樣品的電流和電位。

主要特點(diǎn)：