當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM)> 輕掃描探針顯微鏡A1130364
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參考價 | 面議 |
- 公司名稱 上海艾測電子科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2016/1/3 11:00:00
- 訪問次數(shù) 452
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型號:A1130364
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傳真:-602,-602
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地址:上海市嘉定區(qū)南翔金通路1736弄1號312
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·學(xué)原理為基礎(chǔ),通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微
鏡利用探針對樣品掃描,探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引
起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光,zui后接受信號經(jīng)過計算機(jī)系統(tǒng)
采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
計算機(jī)全數(shù)字化控制,操作簡捷直觀。
步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖--樣品逼近,保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。
深度陡度測量,三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。
X、Y二維樣品移動平臺,快速搜索樣品區(qū)域.
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計算機(jī)卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
樣品尺寸:直徑小等于30mm;厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
XY向分辨率:0.4nm(輕敲模式);0.3nm(AFM模式);0.1nm(STM模式)
Z向分辨率:0.05nm(輕敲模式);0.03nm(AFM模式);001nm(STM模式)
XY二維樣品移動范圍:5mm;精度0.5微米
步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖-樣品逼近
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
電化學(xué)針尖塊,液電池,液體輕敲式成像功能(選配)
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(選購)
電子學(xué)控制器: XYZ控制 18-Bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 Z向反饋 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器,zui大電壓范圍+/-150V 頻率范圍 20K-1000KHz 幅度范圍 0-10.0V 掃描速率 >40000點(diǎn)/秒 掃描角度 0-360度連續(xù)可調(diào) 掃描偏移 任意 圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512 步進(jìn)馬達(dá)控制 手動和自動進(jìn)退 計算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB
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