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PSM 電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡

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公司名稱 Quantum量子科學(xué)儀器貿(mào)易（北京）有限公司
品牌
型號(hào) PSM
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2015/12/25 19:00:00
訪問次數(shù) 680

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

掃描電導(dǎo)率－塞貝克系數(shù)顯微鏡可以測量樣品的電導(dǎo)率和塞貝克系數(shù)的空間分布狀況，是研究熱電材料的利器。

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掃描電導(dǎo)率－塞貝克系數(shù)顯微鏡可以測量樣品的電導(dǎo)率和塞貝克系數(shù)的空間分布狀況，是研究熱電材料的利器。

應(yīng)用領(lǐng)域

1、熱電材料，超導(dǎo)材料，燃料電池，導(dǎo)電陶瓷以及半導(dǎo)體材料的均勻度測量

2、測量功能梯度材料的梯度

3、觀察功能梯度材料的梯度效應(yīng)

4、監(jiān)測 NTC/PTC 材料的電阻漂移

5、導(dǎo)電固體中的傳導(dǎo)損耗

6、陰極材料的電導(dǎo)率損耗

7、GMR 材料峰值溫度的降低，電阻率的變化

8、樣品的質(zhì)量監(jiān)控

掃描電導(dǎo)率-賽貝克系數(shù)顯微鏡

系統(tǒng)組成部分

1、三矢量軸定位平臺(tái)及其控制器

2、熱量克測量的測溫探針

3、接觸探測系統(tǒng)

4、模擬多路器

5、數(shù)字電壓表

6、鎖相放大器
7、攝像探頭

8、帶有控制軟件和 GPIB 總線的計(jì)算機(jī)

9、樣品架

主要技術(shù)參數(shù)
    位置單向定位精度： 1 μm
    位置雙向定位精度： 3 μm
    zui大掃描區(qū)域：       150 mm × 50 mm
    局部測量精度：       10 μm (與該區(qū)域的熱傳導(dǎo)有關(guān))
    信號(hào)測量精度：       100 nV

    測量結(jié)果重復(fù)性：    優(yōu)于3%
    誤差
    塞貝克系數(shù)：          < 3% (半導(dǎo)體)
                                < 5% (金屬)
    電導(dǎo)率：                < 5% (半導(dǎo)體)
                                < 8% (金屬)
    測量速度：           測量一個(gè)點(diǎn)的時(shí)間小于4秒

電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡技術(shù)由德國 Panco 公司和德國宇航中心公共研制開發(fā)，點(diǎn)擊資料下載按鈕下載說明手冊。

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Gwangju Institute of Science and Technology
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