SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀，可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質結構。

　　SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

　　作為2010年3月推出的納米粒子解析裝置， SZ-100 具有諸多優(yōu)異性能：

　　●超小體積設計，將解析納米尺寸重要的三要素(粒子直徑、Zeta 電位、分子量測定)的測定囊括于一身。

　　●從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原液狀態(tài)下進行測量。

　　●微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨自研發(fā)，可以測定取樣調查僅100μL的 Zeta 電位。

　　●適合膠質粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應用。

　　●操作簡單，進樣、設定參數后，只要按開始按鈕即可得到測量結果。

　　儀器簡介：

　　SZ-100 是HORIBA Scientific 推出的納米粒子解析裝置，可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質結構。該儀器被廣泛應用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和CMP 等的檢測。

　　高靈敏度、高精度的測量

　　*表征單一體系納米尺度粒子

　　*解析納米粒子的物質結構

　　SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀技術參數：

　　●粒子直徑測定

　　超寬動態(tài)光散射測量范圍:　0.3nm——8000nm

　　通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關器，實現(xiàn)高性能化。

　　在單一納米粒子光學系統(tǒng)中，采用更低雜散光90°檢測光學系統(tǒng)。

　　雙光路系統(tǒng)（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。

　　●Zeta電位測定

　　通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標準微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。

　　SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀主要特點：

　　●超小體積設計

　　● 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。

　　●樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定。

　　●HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池， 可以測定僅100μL的Zeta電位。

　　●廣泛應用于膠質粒子、 機能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測定。

　　●操作簡單，進樣、設定參數后，只要按開始按鈕即可得到測量結果。

　　SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀應用范圍：

　　● 陶瓷粒子　● 金屬納米粒子　● 碳黑　● 制藥　● 病毒　● 涂料

　　● 化妝品　　● 聚合物　　 　● 食品　● ＣＭＰ● 顏料、油墨