SPM-8100FM高分辨原子力顯微鏡
SPM-8100FM高分辨原子力顯微鏡觀(guān)察生動(dòng)的納米世界
使用調(diào)頻模式的型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡,不僅可以在空氣及液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)超高分辨率,而且*觀(guān)察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。
HR-SPM: 高分辨原子力顯微鏡
HR-SPM特點(diǎn)
使用調(diào)頻模式
空氣和液體中的噪音降低到傳統(tǒng)模式的二十分之一
在空氣和液體環(huán)境中也能達(dá)到超高真空原子力顯微鏡的分辨率
現(xiàn)有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調(diào)幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調(diào)頻模式(frequency modulation) 可以達(dá)到更高的分辨率。
SPM : 掃描探針顯微鏡
AFM : 原子力顯微鏡
AM : 調(diào)幅模式
FM : 調(diào)頻模式
與現(xiàn)有SPM/AFM的區(qū)別
液體環(huán)境中原子分辨率觀(guān)察
NaCl飽和溶液中觀(guān)察固體表面的原子排列。使用調(diào)幅模式的傳統(tǒng)原子力顯微鏡,圖像*被噪音遮蓋(左圖),但在調(diào)頻模式下,原子排列清晰可見(jiàn)(右圖)。調(diào)頻模式實(shí)現(xiàn)了真正的原子級(jí)分辨率。
空氣中Pt催化劑顆粒的觀(guān)察1)
KPFM: 掃描開(kāi)爾文顯微鏡
TiO2基底上的Pt顆粒, 通過(guò)KPFM進(jìn)行表面電勢(shì)的測(cè)定,TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰識(shí)別。同時(shí)可以觀(guān)察到數(shù)納米大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中,紅色區(qū)域是正電勢(shì),藍(lán)色區(qū)域是負(fù)電勢(shì)。對(duì)于PKFM觀(guān)察,F(xiàn)M模式也大幅提高了分辨率。
注: KPFM需要特定的基底。
引用文獻(xiàn):
Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).