高低溫沖擊快速溫變?cè)囼?yàn)箱 特 點(diǎn)：
1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能；
2、等均溫速率賽思可設(shè)定范圍5℃～30℃/min(40℃/min)；
3、滿(mǎn)足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求；
4、賽思采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行；
5、除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時(shí)完成；
6、通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能；
7、感測(cè)器放置測(cè)試區(qū)出（回）風(fēng)口賽思設(shè)計(jì)符合實(shí)驗(yàn)有效性；
8、機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能；
高低溫沖擊快速溫變?cè)囼?yàn)箱 標(biāo)準(zhǔn)：
無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求。
產(chǎn)品&規(guī)范 | 廠商名稱(chēng) | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán)時(shí)間 | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | —— | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度10℃時(shí) |
NABMAT-9492
美軍制造篩選 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度5℃時(shí) |
GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 |
GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 |
筆記本電腦 | 主板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] | 30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn) |
28℃/min→ | LED汽車(chē)照明燈 |
25℃/min→ | PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測(cè)試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) |
24℃/min→ | 光纖連接頭 |
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測(cè)試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測(cè)試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命 |
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17℃/min→ | MOTO |
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測(cè)試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車(chē)引擎蓋下環(huán)境) |
11℃/min→ | 無(wú)鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A |
10℃/min→ | 通用汽車(chē)、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測(cè)試 |
5℃/min→ | 錫須溫度循環(huán)試驗(yàn) |
高低溫沖擊快速溫變?cè)囼?yàn)箱 技術(shù)規(guī)格：
型號(hào) | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內(nèi)箱尺寸
W x D x H cm | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸
W x D x H cm | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
溫度范圍 | -80.00℃～+200.00℃ |
低溫沖擊范圍 | -10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃ |
高溫沖擊范圍 | +60.00℃～+150.00℃ |
時(shí)間設(shè)定范圍 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment |
溫度波動(dòng)度 | ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） |
溫度偏差 | ≤±2℃（-65℃～+150℃） |
溫度均勻度 | ＜2.00℃以?xún)?nèi) |
溫變速率（斜率） | +5℃～+30℃/min(+40℃) |
溫變范圍 | -55℃～+85℃//+125℃ |
