zeta電位儀（顆粒表征），NanoPlus納米粒度與zeta電位儀是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及的FST技術(shù)來(lái)分析納米粒度和zeta電位，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。

納米粒度與zeta電位儀 優(yōu)勢(shì)：

 NanNanoPlus系列儀器具備的性能和靈敏度，設(shè)計(jì)緊湊，配備直觀的操作控制軟件，廣泛適用于各 種材料測(cè)試，是測(cè)試粒度分布與Zeta電位的理想產(chǎn)品。

納米粒度與zeta電位儀采用全樣品池多點(diǎn)校正掃描，具備更高分析精度。有效的消除了電滲效應(yīng)的影響。

更高的靈敏度，提高了原始數(shù)據(jù)質(zhì)量和結(jié)果的精確性。

更廣泛的溫度控制范圍，提高蛋白質(zhì)和生物樣品測(cè)試的靈活性，保持樣品的完整性。

納米粒度與zeta電位儀特點(diǎn)：

70mW激光光源提供高清分析，可檢測(cè)混合物中的小體積聚集體。

多點(diǎn)測(cè)量掃描，用于測(cè)試等電點(diǎn)、配方穩(wěn)定性和膠體系統(tǒng)的均勻性，獲取體系真正的Zeta電位信息。了解、預(yù)測(cè)和量化產(chǎn)品的穩(wěn)定性。

通過(guò)單次測(cè)試即可在整個(gè)動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)獲取更多的樣品信息，節(jié)省時(shí)間。