SMX-2000，微焦X射線透視檢查裝置，日本島津
SMX-2000微焦X射線透視檢查裝置產(chǎn)品信息
功能強大、操作方便、代表高水平的X射線透視裝置！
島津SMX-2000采用了高速載物臺、配置了外觀圖像決定位置功能、只點擊一下鼠標(biāo)就能完成所有必要設(shè)定的跟蹤功能等，能夠更加迅速地移動樣品和變換觀察角度，實現(xiàn)透視檢查。而且，本系統(tǒng)采用的軟件（XEVOLUTION）將曾使用在SMX-1000上的步進(jìn)、教學(xué)功能進(jìn)行升級，可以增加設(shè)定計測功能，這樣用戶就能根據(jù)自己的需要設(shè)定檢查步驟。本設(shè)備使用管球采用沒有高壓電纜的設(shè)計，與平板檢出器配合使用，能夠得到?jīng)]有變形、陰影的高分辨率圖像。新的SMX-2000尤其適合BGA焊球缺陷、觀察焊線鍵和狀態(tài)等實裝板的檢查。
SMX-2000微焦X射線透視檢查裝置用途
實裝基板、電子零部件的檢查
SMX-2000微焦X射線透視檢查裝置特點
輕松鎖定觀察位置
輕松鎖定觀察位置
放置樣品后，只要鼠標(biāo)輕松操作即可鎖定觀察位置。設(shè)備不僅采用了高速驅(qū)動裝置以便能快速找到觀察位置，而且配置的跟蹤功能能夠旋轉(zhuǎn)、傾斜視野，從觀察要求的角度和方向上進(jìn)行透視檢查。
使用“樣品更換”功能，使載物臺自動移動到正門附近，簡單方便就可放置樣品。
外觀圖相機(jī)（光學(xué)）可對載物臺全景拍攝，同時將圖像顯示在監(jiān)視器上。（讀取時間為2秒）
2.定位
在外觀圖上點擊要觀察的點，載物臺會快速移動，將該點對準(zhǔn)透視點。（定位過程不超過2秒）
3.發(fā)射X射線
然后，發(fā)射X射線（鼠標(biāo)點擊左側(cè)圖標(biāo)），監(jiān)視器上就會顯示透視圖像。
設(shè)定觀察條件
只要在樣品類別中進(jìn)行選擇，設(shè)備就會根據(jù)樣品部位調(diào)出相應(yīng)照射條件，完成設(shè)定。（可將經(jīng)常使用的照射條件和圖像顯示條件用樣品名稱進(jìn)行保存，便于隨時調(diào)用。）
SMX-2000微焦X射線透視檢查裝置跟蹤移動
跟蹤功能就是接受器在傾斜過程中，系統(tǒng)控制載物臺隨之移動，使觀察點始終處于視野范圍內(nèi)。當(dāng)觀察點漂移出視野范圍時，雙擊鼠標(biāo)，則激活自動跟蹤功能，自動將觀察點移入視野范圍。
可任意設(shè)定檢查步驟
操作軟件XEVOLUTION改善了教學(xué)（Teaching）和步進(jìn)（Step）功能，進(jìn)一步提高作業(yè)效率，不僅將操作人員從重復(fù)作業(yè)中解放出來，同時也保證了檢查的可靠性。軟件中對于每個檢查點都可獨立設(shè)置圖像計測、數(shù)據(jù)保存和打印等設(shè)定，真正實現(xiàn)滿足不同檢查要求的任意設(shè)置檢查步驟。同時軟件充實了 “顯示作業(yè)的檢查狀況”、“顯示判定基準(zhǔn)圖像”、“重新檢查/跳過檢查”等功能。
教學(xué)（Teaching）功能
預(yù)先登錄檢查點，在對同一樣品進(jìn)行檢查時就可以提高作業(yè)效率。此功能不僅可以記錄檢查點，而且能夠在每個檢查點上獨立設(shè)定透視條件、計測功能，是高級的半自動功能。
步進(jìn)（Step）功能
此功能尤其適用于排列于托盤或格子狀樣品。簡單操作就可登錄載物臺移動的間隔（步進(jìn)值）和移動方向，而且可以對每個點獨立設(shè)置X射線照射條件或各種圖像計測功能。
開始檢查點和移動方向的選擇有16種組合 執(zhí)行了步進(jìn)功能后，計測的點位置和結(jié)果被顯示在此表中
教學(xué)/步進(jìn)功能的應(yīng)用操作
在這兩種功能中，不僅能設(shè)定計測功能，而且能單獨對每個點設(shè)定圖像保存功能/打印條件、判定不合格的處理方法。
設(shè)定檢查點
將“鍵和狀態(tài)“的圖像數(shù)據(jù)保存 將“氣泡率”的圖像數(shù)據(jù)保存 將“焊點錫膏侵潤率”數(shù)據(jù)保存
沒有變形的圖像
本設(shè)備采用型數(shù)字平板檢出器，與新型的開放型X射線管配合，可得到高放大倍率、高分辨率的沒有變形的圖像，并且能夠在肉眼觀察或圖像計測時輸出高精度結(jié)果。
沒有變形的圖像
平板數(shù)字檢出器不使用光學(xué)鏡頭，所以檢測面是水平的，所以可以得到?jīng)]有變形且沒有暗影的圖像
像質(zhì)優(yōu)良、高分辨率
微焦點X射線管球和100萬像素的平板數(shù)字檢出器的組合能得到高分辨率的圖像。（使用JIMA標(biāo)樣，分辨率1μm）即使細(xì)微的缺陷和構(gòu)造的改變也能反映
大范圍的對比度
在不改變X射線條件的情況下，調(diào)整亮度和對比度就能看到不同強度的X射線所反映的結(jié)構(gòu)圖像。采用的平板檢出器對比度范圍很寬，能夠提高作業(yè)效率。
