NPFLEX是Bruker公司于2010年推出的一款可針對各種復(fù)雜形狀樣品進(jìn)行表面測量的儀器。光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式光學(xué)輪廓儀，它使用兩種技術(shù)來測量表面高度。一種是相位漂移干涉計（PSI）模式，它可以測量光滑表面；另一種是垂直掃描干涉計（VSI）模式，它可以測量粗糙表面和臺階。

由于航空鑄造零件上，具有很多過渡曲面，采用探針式測量方法有很多的局限性。一是某些區(qū)域探針很難進(jìn)入里面進(jìn)行測量；二是探針式測量方法的精度達(dá)不到測量的要求。而采用白光干涉的測量方法只要光能入射并反射回來就可進(jìn)行測量，不管是對曲面還是直面均可進(jìn)行快速、高精度、高重復(fù)性測量