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參考價 | 面議 |
- 公司名稱 aep technology中國辦事處
- 品牌
- 型號 NanoMap-D
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2016/1/3 13:00:00
- 訪問次數(shù) 1432
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NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款測量計量型設(shè)備既可以
用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。
1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等
2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等
3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面
4、薄膜和厚膜的臺階高度測量
5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定
NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款測量計量型設(shè)備。既可以
用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。
1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等
2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等
3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面
4、薄膜和厚膜的臺階高度測量
5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量
6、微電子表面分析和MEMS表征
主要特點:
高精度
· 的縱向分辨率:0.1 nm ( 接觸式);2 nm(光學(xué)非接觸式)
· 對周圍環(huán)境和光源的強適應(yīng)性
· 沒有機械過濾
寬闊的垂直測量范圍
· 多種選擇光學(xué)頭及接觸式
· 縱向掃描范圍 300 to 3900 μm
· 圖像“縫合”技術(shù)使再大的表面也能呈現(xiàn)在一幅圖像內(nèi)
試用于幾乎所有的表面
· 透明,不透明,反射光強等多種材料
· 垂直臺階,高寬深比,隆起,孔洞
· 脆性的材料,軟材料,柔性材料表面
· 尖銳的,堅硬的,磨損的表面
適應(yīng)性強
· 白光光源,人體安全設(shè)計,長壽命白光LED 免維護??梢杂糜诟鞣N環(huán)境的實驗室,甚至工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境。
· 接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術(shù)的*結(jié)合
· 接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動掃描模式,三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺掃描使用高級別光學(xué)參考平臺能使長程掃描范圍到50mm。
· 在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機可對樣品直接觀察
· 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器,同時擁有寬闊測量動態(tài)范圍(zui大至500μm)及亞納米級垂直分辨率?。▃ui小0.1nm )
· 軟件設(shè)置恒定微力接觸(0.1 to 100 [mg])
關(guān)鍵詞:三維輪廓儀、白光干涉儀、三維臺階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面輪廓儀、表面臺階儀、薄膜分析儀、表面形貌儀、表面粗糙度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式臺階儀、非接觸式表面形貌儀、非接觸式表面粗糙度儀、接觸式輪廓儀、接觸式臺階儀、接觸式表面形貌儀、接觸式表面粗糙度儀、探針式輪廓儀、探針式式臺階儀、探針式表面形貌儀、探針式表面粗糙度儀、雙模式輪廓儀、雙模式臺階儀、雙模式表面形貌儀、雙模式表面粗糙度儀、三維表面輪廓儀、三維表面臺階儀、三維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀、
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