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- 公司名稱 北京恒奧德科技有限公司
- 品牌
- 型號 JG-CST-50
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2015/11/27 19:00:00
- 訪問次數(shù) 371
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JG-CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計、開發(fā)的一種光學(xué)儀器,與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進行對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高。是理化試驗室的*設(shè)備。
沖擊試樣缺口投影儀/沖擊試樣缺口投影機 型號:JG-CST-50
JG-CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計、開發(fā)的一種光學(xué)儀器,與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進行對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高。是理化試驗室的*設(shè)備。
技術(shù)參數(shù):
投影屏: 200×200mm 放大倍數(shù): 50X
光源: 12V 100W(鹵鎢燈) 電源: 220V 50Hz 150W
外型尺寸: 515×224×603mm 重量: 約18Kg
=
北京恒奧德科技有限公司
電 話:/
傳 真:
手 機:/
:1335055392/1575574360/1321298635
郵 箱:hadkj_2012
網(wǎng) 址:/netshow/ZT11690
/>地 址:北京北洼路90號院16號樓317室(北京市地質(zhì)工程勘察院內(nèi))
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