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技術(shù)文章
火焰光度計(jì)故障處理
點(diǎn)擊次數(shù):822 發(fā)布時(shí)間:2014-11-7
*,每次在做鉀、鈉分析測(cè)試前對(duì)火焰光度計(jì)要進(jìn)行調(diào)零,鉀、鈉標(biāo)準(zhǔn)定標(biāo),當(dāng)我們?cè)谧鲡浂?biāo)時(shí)發(fā)現(xiàn)鈉定標(biāo)比正常值偏高,影響測(cè)試結(jié)果。
故障分析和處理:下面為內(nèi)標(biāo)法火焰光度計(jì)原理流程。
火焰--鉀、鈉光學(xué)系統(tǒng)--光電檢測(cè)器!檢流計(jì)--鉀、鈉顯示火焰--鋰光學(xué)系統(tǒng)--光電檢測(cè)器--檢流計(jì)--鉀、鈉顯示。
上面流程是以鋰為內(nèi)標(biāo)元素?cái)?shù)字顯示,其光路、放大電路、顯示系統(tǒng)均為兩套。 測(cè)量時(shí)可以一次進(jìn)樣,同時(shí)測(cè)量鉀、鈉兩種元素的含量。 內(nèi)標(biāo)法的火焰光度計(jì),其空白標(biāo)準(zhǔn)和樣品液中都加有相同濃度的內(nèi)標(biāo)元素,測(cè)量時(shí)火焰所發(fā)出的光譜中,既含有待測(cè)元素的光譜線,也含有內(nèi)標(biāo)元素的光譜線。 二者分別經(jīng)各自的光學(xué)系統(tǒng)和檢測(cè)器后,以相反的方向加到檢流計(jì)上。 火焰燃燒時(shí)空氣流速、燃?xì)鈮毫?、霧化狀況等任何變化對(duì)兩信號(hào)都具有相同影響,故待測(cè)元素以外的影響均抵消。 根據(jù)內(nèi)標(biāo)法火焰光度計(jì)的原理分析,我們認(rèn)為產(chǎn)生該故障的原因有二:1.定標(biāo)液含量不準(zhǔn)確。 2.光學(xué)系統(tǒng)、光電檢測(cè)電路有故障。 故障部位大致確定后(1)為排除故障新開(kāi)一瓶定標(biāo)液,嚴(yán)格按操作規(guī)程進(jìn)行一次調(diào)零和鉀、鈉定標(biāo)測(cè)試,故障同前。 可見(jiàn)鈉定標(biāo)偏高不是因試劑盒不準(zhǔn)所致。(2)打開(kāi)該機(jī)上蓋和右側(cè)蓋板,首先找到鉀、鈉放大電路板。該板在主機(jī)的右側(cè)*塊板上,此電路板上有幾個(gè)電壓測(cè)試點(diǎn)PTK,PTA,PTO。 隨機(jī)說(shuō)明書很簡(jiǎn)單,未標(biāo)明這幾個(gè)點(diǎn)的作用與要點(diǎn),也沒(méi)有電原理圖,我們只好試驗(yàn)著首先分別記錄這幾個(gè)點(diǎn)的故障電位數(shù)值、在這三個(gè)測(cè)試點(diǎn)旁分別設(shè)置有一個(gè)可調(diào)電阻、可見(jiàn)它們是內(nèi)標(biāo)值修整點(diǎn)。 我們首先微調(diào)了PTA點(diǎn)的微調(diào)電阻、邊調(diào)整邊觀察儀器定標(biāo)值數(shù)顯情況、當(dāng)電壓降低后、鈉定標(biāo)值能滿足要求、但再用調(diào)零液調(diào)零時(shí)、零位又發(fā)生變化。 這時(shí)又試微調(diào)FRO點(diǎn)微調(diào)電阻、使得調(diào)零正常、就這樣反復(fù)調(diào)整、直至既滿足調(diào)零又符合定標(biāo)。 該機(jī)經(jīng)過(guò)我們調(diào)整PTA、FRO 這兩點(diǎn)電位后、鈉定標(biāo)不正常故障排除。 zui后分析認(rèn)為。這三個(gè)電壓測(cè)試點(diǎn)是:PTK-鉀定標(biāo)調(diào)試點(diǎn);PTA-鈉定標(biāo)測(cè)試點(diǎn);PTO-調(diào)零調(diào)試點(diǎn)。 為什么儀器的幾個(gè)電壓會(huì)發(fā)生變化呢A一種是可變電阻變質(zhì)、一種是運(yùn)輸或振動(dòng)使得可變電阻發(fā)生微變、應(yīng)該引起我們的重視。