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　　由于增材制造的重要性日益提高，顆粒分析變得越來越重要，導(dǎo)致工業(yè)制造商對產(chǎn)品的質(zhì)量要求更嚴格。除了產(chǎn)量大化外，制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當尺寸和形態(tài)的顆粒。
 

　　在本篇文章中，將討論如何使用 Nebula™ 顆粒分散器實現(xiàn)顆粒均勻分散，并且可以使用飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)分析顆粒。
 

　　分散粉末樣品的原因
 

　　為了確保顆粒分析的準確性，不僅需要分離單個顆粒，而且還要分離附著物。圖 1 顯示了將粉末樣品直接添加到碳導(dǎo)電膠上和使用 Nebula™ 顆粒分散器之間的區(qū)別。
 

　　圖1：將粉末樣品直接涂覆到碳導(dǎo)電膠(左)和使用 Nebula™ 顆粒分散器(右)之間的掃描電鏡圖比較。
 

　　Nebula™ 顆粒分散器進行樣品制備
 

　　Nebula™ 的使用步驟如下圖所示。 在開始之前，操作者移除圓柱并取出樣品臺(通常由鋁制成)。先在樣品臺上粘貼多孔碳導(dǎo)電膠(a)，再將樣品臺放置在 Nebula™ 基座上(b)。蓋上圓柱，打開真空閥(c)，使真空倉內(nèi)的壓力迅速降低。
 

　　操作者可以通過觀察壓力計，調(diào)節(jié)倉內(nèi)的真空度(d)。一旦真空處于正確的水平，關(guān)閉真空閥(e)并將樣品放在真空倉的頂部(f)。向下按壓杠桿釋放真空(g)，使空氣流入倉內(nèi)。 一旦倉內(nèi)的氣壓與環(huán)境一致，就可以移除真空倉，并進行成像(h)和分析(i)。
 

分散粉末后需要做什么呢
 

　　當樣品中的顆粒均勻分散后，就可以使用掃描電鏡(SEM)開始分析樣品。飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)是專門為顆粒分析設(shè)計的。該軟件可以幫助用戶根據(jù)不同參數(shù)(如直徑，圓度或灰度)來分析顆粒。 通過數(shù)據(jù)中的異常值，用戶可以使用 EDX 進行元素分析，從而獲得更好的解決方案。