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MC-2000A說(shuō)明書(shū)

最近更新時(shí)間：2014-11-12

提 供 商：濟(jì)寧天華超聲電子儀器有限公司資料大?。?/span>71KB

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相關(guān)產(chǎn)品：

*章   概論
一、儀器特點(diǎn)：
MC-2000A型涂（鍍）層測(cè)厚儀是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代同類(lèi)儀器的*水平。
二、應(yīng)用范圍：
本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
三、工作原理 ：
MC-2000A型涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線(xiàn)圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。
四、技術(shù) 參數(shù)
1、測(cè)量范圍 ：　　0~1200um
2、測(cè)量誤差：　　<3%±1um
3、zui小示值：　　1um
4、顯示方式 ：    4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
   （1）.測(cè)量：   　  單探頭全量程測(cè)厚
   （2）.存儲(chǔ)、刪除： 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。
   （3）.讀：　 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)
   （4）.統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值
   （5）.校準(zhǔn)： 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
   （6）.電量： 具有欠壓顯示功能
   （7）.蜂鳴提示：操作過(guò)程中有蜂鳴提示
   （8）.打?。嚎纱蛴y(cè)量值，選配微型打印機(jī)
   （9）.關(guān)機(jī)：具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法
6、電源： 　　　  兩節(jié)1.5v電池
7、功耗：   　　　zui大功耗100mw
8、外形盡寸：    　50mm*121mm*24mm
9、重量：　　　　　 90g
10、使用環(huán)境溫度：　0℃~+40℃  相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度：     0.2mm
12、基體zui小平面：     7mm
13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm
14、欠電壓指示：       右上角顯示＂ ＂
*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度58        第二章   應(yīng)用方法
閱讀本章內(nèi)容時(shí)，應(yīng)結(jié)合儀器，對(duì)照附圖，熟悉儀器外部結(jié)構(gòu)及各部位名稱(chēng)。
一、開(kāi)機(jī)前準(zhǔn)備：根據(jù)電池倉(cāng)蓋指示的方向打開(kāi)電池倉(cāng)，然后按照機(jī)殼后面的正負(fù)極指示裝入兩節(jié)1.5 V電池，壓好電池倉(cāng)蓋。
二、按鍵名稱(chēng)及作用
A."ON/OFF"鍵:為復(fù)合鍵。在關(guān)機(jī)狀態(tài)時(shí)，為開(kāi)機(jī)鍵；在開(kāi)機(jī)狀態(tài)時(shí)，為關(guān)機(jī)鍵。儀器在自動(dòng)關(guān)機(jī)后應(yīng)按此鍵開(kāi)機(jī)。
B."MENU"鍵:為菜單鍵。
C." ▲"、"▼"鍵:為加/減復(fù)合鍵。
D."CAL"鍵:具有校準(zhǔn)/清除功能。
E."ENTER"鍵:用來(lái)確認(rèn)某一功能狀態(tài)。
三、使用方法
1.開(kāi)機(jī):先取開(kāi)探頭線(xiàn)插在儀器上，然后按動(dòng)“ON/OFF”鍵（探頭與鐵基或磁場(chǎng)的距離保持10cm以上）開(kāi)機(jī)聽(tīng)到蜂鳴聲后儀器進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，可以直接進(jìn)行測(cè)量。如果測(cè)量數(shù)據(jù)偏差較大,可以進(jìn)行鐵基校準(zhǔn)后再測(cè)量。
測(cè)量時(shí)要注意測(cè)量指示,箭頭消失后才能再次測(cè)量，如右圖
    2.校準(zhǔn):本儀器分為系統(tǒng)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)和鐵基校準(zhǔn)三種。在一般情況下只需進(jìn)行鐵基校準(zhǔn)即可進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。當(dāng)儀器鐵基與被測(cè)件鐵基的磁性和表面粗糙度差別較大時(shí),可以進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)以保證測(cè)量度。
（1） 鐵基校準(zhǔn)
儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了保證測(cè)量的性,可以在測(cè)量測(cè)試件之前*行鐵基校準(zhǔn)。
校準(zhǔn)方法:儀器開(kāi)機(jī)后，先將探頭放在被測(cè)試件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量?jī)纱?，測(cè)完第二次按住探頭不動(dòng)按下"CAL"鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校準(zhǔn)。如果沒(méi)發(fā)出兩聲蜂鳴說(shuō)明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可。
（2） 兩點(diǎn)校準(zhǔn)
在測(cè)量過(guò)程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)個(gè)別測(cè)量值偏差較大可以通過(guò)兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法進(jìn)行調(diào)整。
校準(zhǔn)方法：把一個(gè)已知厚度的被測(cè)試件作為標(biāo)準(zhǔn)樣片進(jìn)行測(cè)量，如果顯示值與真實(shí)值不一致，可以通過(guò)" ▲"、"▼"鍵進(jìn)行加1或減1操作。按住" ▲"、"▼"鍵不放可以進(jìn)行連續(xù)加、減，直到顯示值和真實(shí)值相同為止。校準(zhǔn)完成后即可進(jìn)行正常測(cè)量。
注意:兩點(diǎn)校準(zhǔn)時(shí)選用的被測(cè)試件厚度不要與系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)的五個(gè)樣片值接近，否則操作無(wú)效。
（3） 系統(tǒng)校準(zhǔn)
儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過(guò)技術(shù)人員系統(tǒng)校準(zhǔn),為保證度
也可在工作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行二次系統(tǒng)校準(zhǔn)。
系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程:
在關(guān)機(jī)狀態(tài)下同時(shí)按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵，先放開(kāi)"ON/OFF"鍵然后放開(kāi)"MENU"鍵即可進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。
本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片,進(jìn)入系統(tǒng)后首先顯示"鐵基"界面,此時(shí)要把探頭放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量?jī)纱魏笕绻麥y(cè)量沒(méi)有錯(cuò)誤操作,伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入*個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕顯示出廠時(shí)提供的*個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和真實(shí)值不符,可以通過(guò)"▲▼"鍵來(lái)進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲″或"▼"鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減,直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)*個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量?jī)纱螣o(wú)誤后,伴隨著兩聲蜂鳴,儀器進(jìn)入下一個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量?jī)纱魏笕詿o(wú)兩聲蜂鳴,說(shuō)明操作有誤，重新測(cè)量一次即可。接下來(lái)四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。
    當(dāng)?shù)谖鍌€(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕顯示"0000''，進(jìn)入開(kāi)機(jī)界面如圖A，儀器此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。
    注意：這五個(gè)樣片可以使用提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順序進(jìn)行，相鄰樣片間應(yīng)該有一定的差值。
     3.在測(cè)量狀態(tài)下存儲(chǔ)
在測(cè)量狀態(tài)下屏幕顯示為測(cè)量值,如需存儲(chǔ)按動(dòng)儀器上面的“ENTER”鍵 ,存儲(chǔ)地址自動(dòng)加1。例如當(dāng)前地址為0004,測(cè)量厚度值為1054um,存儲(chǔ)后地址變?yōu)?005顯示界面如圖示。
屏顯結(jié)果只能被存儲(chǔ)一次,如需另外存儲(chǔ)可重新測(cè)量。如果要從初始地址重新開(kāi)始存儲(chǔ)可以在存儲(chǔ)讀出菜單下長(zhǎng)按"ENTER"鍵,儲(chǔ)存序列號(hào)就會(huì)回歸至初始地址0001,即可開(kāi)始重新儲(chǔ)存。
4．設(shè)置菜單使用：
無(wú)論在什么狀態(tài)下按?。ENU＂鍵,儀器顯示四項(xiàng)功能菜單為：存儲(chǔ)讀出------打印-----通訊-----統(tǒng)計(jì)，按"▲▼"鍵可調(diào)節(jié)箭頭的位置來(lái)選擇不同的功能。（如圖示）例如要設(shè)置＂存儲(chǔ)讀出＂功能，在箭頭指向"存儲(chǔ)讀出"標(biāo)志時(shí)按住"ENTER"鍵,儀器就進(jìn)入存儲(chǔ)讀出狀態(tài)。
    （1）、存儲(chǔ)讀出
     本儀器可以連續(xù)存入254個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)，在進(jìn)入存儲(chǔ)讀出菜單后即可看到原來(lái)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。通過(guò)"▲▼"鍵可以把不同存儲(chǔ)單元中的內(nèi)容顯示出來(lái)。
（2）、打印
首先把打印機(jī)準(zhǔn)備好,把打印機(jī)插好連線(xiàn),裝入打印紙,接上電源。此時(shí)紅燈綠燈都亮,若是綠燈沒(méi)有亮,則按動(dòng)打印機(jī)上的"SEL"鍵,綠燈亮起說(shuō)明打印機(jī)已準(zhǔn)備好。把打印機(jī)連線(xiàn)另一頭三針插頭根據(jù)套紅管插針插入儀器帶紅點(diǎn)一側(cè)的方向,插入儀器"PCI"接口,儀器在"打印"功能狀態(tài)時(shí)按"▲"鍵,儀器開(kāi)始打印，長(zhǎng)按"▼"鍵結(jié)束打印。
（3）、通訊
    打開(kāi)通訊軟件,把軟件上的"打開(kāi)串口"打開(kāi),其它設(shè)置都是默認(rèn)設(shè)置。儀器在"通訊"功能狀態(tài)時(shí)按"▲"鍵,儀器開(kāi)始通訊，長(zhǎng)按"▼"鍵結(jié)束通訊。
（4）、統(tǒng)計(jì)
  為了有效的處理分析測(cè)量數(shù)據(jù),本儀器帶有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能。進(jìn)入統(tǒng)計(jì)菜單后,會(huì)顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的zui大值、zui小值和平均值。在測(cè)量狀態(tài)下屏幕顯示為測(cè)量值,儀器對(duì)測(cè)量值進(jìn)行自動(dòng)存儲(chǔ)。屏幕上方"S"后面顯示的數(shù)字是進(jìn)入統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)，為保證統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的有效性,在測(cè)量少于8次時(shí)不顯示平均值，超過(guò)8次只統(tǒng)計(jì)zui后測(cè)量的8個(gè)數(shù)據(jù)。
在測(cè)量過(guò)程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)有個(gè)別數(shù)據(jù)的偏差明顯較大，可以拿開(kāi)探頭在非測(cè)量狀態(tài)下按住"CAL"鍵來(lái)刪除，以免該數(shù)據(jù)進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)運(yùn)算。此時(shí)屏幕出現(xiàn)“0000µm”，即可重新測(cè)量數(shù)據(jù)。在統(tǒng)計(jì)狀態(tài)下直接測(cè)量數(shù)據(jù)就能返回到測(cè)量狀態(tài)。
四、注意事項(xiàng)：
（１）測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量精度。
（２）在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新校正。
五：影響測(cè)量的若干因素
基體金屬磁化
磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
 邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的
 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
表面粗糙度
基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在
不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。
附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
探頭的放置
探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
試片的變形
探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
讀數(shù)次數(shù)
通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量.表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。

       第三章   維護(hù)與檢修
1. 儀器應(yīng)防止潮濕、過(guò)熱和接觸腐蝕性氣體和液體。
2. 不可晃動(dòng)或揪扯探頭線(xiàn)。
3. 儀器應(yīng)保持清潔。
4. 儀器*不用時(shí)應(yīng)取出電池。
5. 測(cè)量不正常時(shí)應(yīng)作下述處理:
Ａ：查電壓是否正常，電池正負(fù)極是否接觸良好。
Ｂ：測(cè)量方法是否得當(dāng)。
Ｃ：重大故障送廠或廠維修部修理。
 D：每次使用必須先插上探頭然后再開(kāi)機(jī),否則儀器不自檢。

附一   裝箱單

 一、涂層測(cè)厚儀主機(jī)（MC-2000A）         一臺(tái)
 二、1.5v電池 （7號(hào)）                      二節(jié)
 三、探頭                                一支
 四、標(biāo)準(zhǔn)樣片      　　　　　　          一盒
 五、鋼銼                                一把
 六、小鋁箱                              一個(gè)
 七、說(shuō)明書(shū)、合格證                      一套
       
 選配件：微型打印機(jī)，數(shù)據(jù)線(xiàn)，操作軟件 內(nèi)防腐探頭

濟(jì)寧天華超聲電子儀器有限公司
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廠址：山東省濟(jì)寧市高新區(qū)薛口建材市場(chǎng)萊鋼路10號(hào)

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