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YASHILIN高低溫試驗(yàn)機(jī)測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)介紹
點(diǎn)擊次數(shù)：135 發(fā)布時(shí)間：2014-12-15
高低溫試驗(yàn)機(jī)測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
GB/T 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
GB/T 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。
GB/T 2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法。
GB/T 2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。
GB/T 2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
高低溫試驗(yàn)機(jī)測(cè)試具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度試驗(yàn)。