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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備
最近更新時間:2014-11-16
提 供 商:蘇州寶昀通檢測設(shè)備有限公司資料大?。?/span>1.4MB
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太陽輻射試驗設(shè)備檢驗步驟
(一)輻射強度及光譜能量分布檢驗步驟
1、將傳感器布放在規(guī)定的位置上,使傳感器的感應面與光源入射方向垂直
2、啟動光源,待光源穩(wěn)定以后,依次測量各點的輻射強度,每點連續(xù)測量三次,時間間隔為1min
(二)溫度偏差、溫度波動度、溫度指示誤差的檢驗步驟
1、選擇檢驗溫度標稱值
在試驗設(shè)備可調(diào)范圍內(nèi),一般選取GB/T2423.24標準中規(guī)定的有代表性的溫度標稱值,常溫:25℃,高溫:40℃、55℃
根據(jù)試驗和檢驗的需求,亦可選取其他溫度標稱值
2、將傳感器布放在規(guī)定的位置上,光源不的直射在傳感器上,應對傳感器采取屏蔽方法防止輻射熱效應
3、啟動光源,使設(shè)備達到規(guī)定的輻射強度
4、把試驗設(shè)備的溫度控制器調(diào)節(jié)到所要求的標稱溫度上
5、使試驗設(shè)備降溫或升溫,進入控溫狀態(tài)后穩(wěn)定30min,開始記錄各測量點的溫度和設(shè)備只是溫度,每隔1min記錄一次,在30min內(nèi)共記錄30次