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技術文章
電子產品試驗方法所需高低溫箱的檢定標準
- 點擊次數(shù)：663 發(fā)布時間：2014-11-9
電子產品試驗方法所需的檢定標準
| 試驗方法標準 | 檢定方法標準 | ||
| 代號 | 名稱 | 代號 | 名稱 |
| GB2423.1 | 電工電子產品環(huán)境 第2部分試驗方法 試驗A：低溫 | GB5170.2 | 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備 |
| GB2423.1 | 電工電子產品環(huán)境 第2部分試驗方法 試驗B：高溫 | ||
| GB2423.22 | 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法 | ||
| GB2423.3 | 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Ca：恒定濕熱 | GB5170.5 | 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 |
| GB2423.4 | 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Db：交變濕熱 | ||
| GB2423.9 | 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Cb：設備用恒定濕熱 | ||
| GB2423.16 | 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗J：長霉 | ||
| GB2423.17 | 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Ka：鹽霧 | GB5170.8 | 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 |
| GB2423.18 | 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Kb：交變鹽霧 | ||
| GB2423.19 | 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗 | GB5170.11 | 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗設備 |
| GB2423.20 | 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 Kd：接觸點和連接件硫件氫試驗方法 | ||
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