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GB 2423.1—89代替GB 2423.1—81標準.本標準等效采用標準IEC68—2—1《基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：寒冷》（1974年版）及其*次補充文件IEC 68—2—1A（1978）。本標準規(guī)定了電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法。適用于非散熱和散熱的電工電子產品（包括元件、設備及其它產品）有低溫試驗。
  GB 2423.1-89標準用來考核或確定電工、電子產品在低溫環(huán)境條件下貯存（或）使用的適應性。而不能用來評價試驗樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力，這時應當采用GB 2423.22《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法》。本試驗方法通常用在條件試驗期間能達到溫試穩(wěn)定的試驗樣品。試驗時，是將具有室溫的試驗樣品投入試驗。當試驗樣品實際上是和某種特定的安裝架一起使用時，則試驗時就應使用這些安裝架。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品達溫度穩(wěn)定時開始計算；特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定，則試驗持續(xù)時間從試驗箱達到規(guī)定溫度試驗時開始計算。
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