產(chǎn)品名稱:SRM 3600 小角度X射線散射強度校準(zhǔn)
英文名稱:Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering
品牌:NIST
產(chǎn)品貨號:SRM 3600
規(guī)格:coupon
SRM 3600 小角度X射線散射強度校準(zhǔn)在用于小角度 X 射線散射 (SAXS) 儀器的散射強度校準(zhǔn)。 SAXS 測量表征了異質(zhì)材料系統(tǒng)的微觀結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu):特別是微米級和納米級特征的尺寸分布,以及散射強度校準(zhǔn),它們的體積分數(shù)或數(shù)量濃度,以及它們的表面積 [1]。SRM 3600 的一個單元由一個大約尺寸為 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳試樣組成。
儲存和使用說明
儲存:
SRM 3600 小角度X射線散射強度校準(zhǔn)應(yīng)儲存在提供的塑料膜盒內(nèi),環(huán)境干燥,遠離過多的水分或熱量(最高 60 °C)。 SRM 3600 玻璃碳材料已被證明可在較長時間內(nèi)保持穩(wěn)定,用于校準(zhǔn)目的,在這些儲存條件下具有無限的保質(zhì)期 [5]。
用途:
要使用 SRM 3600 使用帶有二維 (2D) 位置敏感檢測器 (PSD) 的傳統(tǒng) SAXS 儀器為“未知"樣品提供 SAXS 強度校準(zhǔn),必須遵循幾個步驟。使用根據(jù)需要使用衰減器來保護 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響(空白、樣品和標(biāo)準(zhǔn)品的衰減相同),測量樣品 TS 和標(biāo)準(zhǔn)品 TSTD 相對于入射光束(空白) 在 Q = 0 處測量的強度,其中 Q = (4π/λ)sinθ,λ 是 X 射線波長,θ 是一半散射角 [1]。還可以從這些傳輸測量中確定 2D PSD 上的入射光束位置。然后,用一個光束擋板保護 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響,在相同條件下對“未知"樣品、空白(不存在樣品)和電子背景(X 射線)進行 SAXS 測量光束關(guān)閉)和 SRM 3600 標(biāo)準(zhǔn)試樣。將每個 2D PSD 像素的所有測量強度歸一化為入射光束強度,然后減去每個像素的電子背景。對于樣品和標(biāo)準(zhǔn)品,分別減去每個 PSD 像素的空白散射,分別由因子 TS 或 TSTD 衰減。然后相對于探測器上的入射光束位置(Q = 0 的位置)對 2D PSD 數(shù)據(jù)進行循環(huán)平均,并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及樣品或標(biāo)準(zhǔn)厚度 τS 或 τSTD。請注意,對于SRM 3600 小角度X射線散射強度校準(zhǔn),應(yīng)使用 τSTD = 1.055 mm。
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