測(cè)角儀(goniometer) 通指量度角度大小的裝置,又稱測(cè)角器、測(cè)角計(jì)、角度計(jì)、量角儀等。
現(xiàn)指波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜中的測(cè)角系統(tǒng)。它以轉(zhuǎn)臂傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)行角度測(cè)量。
測(cè)角儀校準(zhǔn)步驟
1.清洗正多面棱體,并對(duì)棱鏡及棱體恒溫。
2.調(diào)整儀器使儀器處于正常工作狀態(tài)下,并檢查外觀,儀器應(yīng)能平穩(wěn)的工作,讀數(shù)裝置視場(chǎng)亮度應(yīng)均勻。開關(guān)按扭應(yīng)可靠的工作。金屬度盤刻度方向及示值應(yīng)一致。
3.用自準(zhǔn)儀檢查工作臺(tái)的工作面的直線度和平面度。
4.用心軸、測(cè)微表檢定工作臺(tái)的平行度和斜向圓跳動(dòng)。
5.示值誤差檢定:選用標(biāo)準(zhǔn)正多面棱體和自準(zhǔn)直儀做標(biāo)準(zhǔn),將棱體借助心軸固定在分度頭上,儀器度盤位于0°位置,調(diào)整多面棱體,使其0°工作面與自準(zhǔn)直儀照準(zhǔn),在分度頭讀數(shù)裝置中讀數(shù),然后轉(zhuǎn)動(dòng)分度頭,使度盤分別為30°…60°…330°位置,每個(gè)測(cè)回的示值用大與小之差來確定。
晶體測(cè)角儀(goniometer)是測(cè)量晶體面角以研究晶體幾何形狀的儀器。常用的有接觸測(cè)角儀和反射測(cè)角儀。最普通的接觸測(cè)角儀(contact goniometer)相當(dāng)于量角器加一小尺,適用于晶體的測(cè)量。反射測(cè)角儀有單圈反射測(cè)角儀和雙圈反射測(cè)角儀兩種。
單圈反射測(cè)角儀(one circle reflection goniometer)主要由水平圈、光管、視物管(望遠(yuǎn)鏡)和掣晶臺(tái)四部分組成。根據(jù)晶面對(duì)光線反射的性質(zhì),利用光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量,精度較高,可達(dá)1′,適用于測(cè)量粒徑約數(shù)毫米而且晶面平整光滑的小晶體。
雙圈反射測(cè)角儀(two circle reflection goniometer)比單圈反射測(cè)角儀多一個(gè)直立圈,使晶體可繞互相垂直的兩個(gè)軸任意轉(zhuǎn)動(dòng),大大簡(jiǎn)化了測(cè)量手續(xù),是晶體測(cè)量的儀器。用接觸測(cè)角儀或單圈反射測(cè)角儀測(cè)得的是每?jī)蓚€(gè)晶面法線間的夾角值,即面角值。而由雙圈反射測(cè)角儀測(cè)得的則是每一個(gè)晶面的一組球面坐標(biāo)值--方位角和極距角值
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