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四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀參數(shù)

閱讀:455      發(fā)布時(shí)間:2020-09-08
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  四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀型號(hào):FT-331
 
  一. 描述Description:
 
  采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
 
  二.參照標(biāo)準(zhǔn)standard:
 
  硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?
 
  三.適用范圍Applicable scope:
 
  適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償,并帶有溫度補(bǔ)償功能,自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;采用AD芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數(shù)據(jù),生成報(bào)表
 
  用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品
 
  四.型號(hào)及參數(shù)Models and technical parameters
 
  規(guī)格型modelFT-331
 
  1.方塊電阻范圍Sheet resistance 10-5~2×105Ω/□
 
  2.電阻率范圍Resistivity 10-6~2×106Ω-cm
 
  測(cè)試電流范圍
 
  Test current 0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA
 
  4.電流精度 Current accura±0.1%
 
  5.電阻精度Resistance ≤0.3%
 
  6.顯示讀數(shù)display液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity 7.測(cè)試方式test mode普通單電測(cè)量general single electrical measurement
 
  8.工作電源power輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W
 
  9.誤差errors≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 Standard Sample results)
 
  10.選購(gòu)功能choose to buy選購(gòu)1.pc軟件; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線(xiàn)形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái);5.標(biāo)準(zhǔn)電阻
 
  1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.
 
  11.測(cè)試探頭Test probe探針間距選購(gòu):1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.
 
  Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.

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