TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測(cè)試。
主要技術(shù)指標(biāo):
電壓范圍:±12V標(biāo)配 (可擴(kuò)展到 +/- 10kV)
測(cè)試頻率:0.01Hz~1000Hz
zui大疲勞測(cè)試頻率:50kHz
zui小脈沖寬度:20μs
輸出電阻:50Ω
zui大電容:100nF
輸出電流:+/-50mA
電流放大器:電流大小范圍:1nA~1A
技術(shù)說明:
電壓范圍: +/- 25 V(可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV);
電滯頻率:5 kHz(標(biāo)準(zhǔn)FE模塊);
最小脈沖寬度:2 μs;
最小上升時(shí)間:1 μs;
電流放大范圍:1pA~1A;
最大負(fù)荷電容:1μF;
輸出電流峰值:+/-1 A。
可擴(kuò)展部件:
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS等。
MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試,樣品上的電壓降通過四點(diǎn)測(cè)試。
RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開,并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。
DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。
由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況,因此通過這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。
針對(duì)工業(yè)方面的應(yīng)用,TF Analyzer 2000E提供了256個(gè)自動(dòng)測(cè)試的通道,大大擴(kuò)展了該儀器的測(cè)試功能。
以上所有的模塊可根據(jù)您的測(cè)試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合
公司主要研發(fā)、制造和銷售的儀器有:電壓擊穿試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、鐵電材料測(cè)試儀器、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀、表面及體積電阻率測(cè)試儀、壓電材料測(cè)試儀器、熱電材料測(cè)試儀器、絕緣材料電性能檢測(cè)設(shè)備、高溫管式爐\反射爐\氣氛爐、高溫電性能測(cè)試設(shè)備、EST靜電檢測(cè)儀器、硅橡膠\絕緣子行業(yè)測(cè)試設(shè)備、PCB\三防漆電子材料測(cè)試、電氣薄膜電學(xué)檢測(cè)儀器、高低壓電氣材料測(cè)試設(shè)備、電線電纜行業(yè)電學(xué)測(cè)試設(shè)備、高分子材料電學(xué)測(cè)試儀器、熱分析儀器、電氣安規(guī)檢測(cè)儀器、半導(dǎo)體芯片類測(cè)試儀器、新能源汽車行業(yè)、電子行業(yè)、傳感器測(cè)試儀等,可接定制儀器訂單。
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