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高、低溫環(huán)境下的介電溫譜及

高、低溫介電測量系統用于分析寬頻、高、低溫環(huán)境條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線，是專業(yè)從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電間、頻率、偏壓變化的曲線，高溫介電測量系統是功能材料測試必bei電學性能評估設備。系統搭配Labview系統開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行頻率、溫度、時間、測試項等設置，符合材料測試多樣化測試的需求。

本系統主要用于材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統包含高、低溫環(huán)境、阻抗分析儀、測試夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據產品及測試項目要求選購；,實現了自動完成不同環(huán)境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可根據用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據實驗方案設計，通過測量C和D值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐富多樣。