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HCTZ-2S型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。

  儀器由主機、探針測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由四探針測試儀主機直接顯示，亦可與計算機相連接通過四探針軟件測試系統(tǒng)控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。

  儀器采用了最新電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等特點。

設備保養(yǎng)：

經常保持設備和計算機的清潔、衛(wèi)生。

預防高溫、過濕、灰塵、腐蝕性介質、水等浸入機器或計算機內部。

定期檢查，保持零件、部件的完整性。

注意事項：

1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規(guī)范操作

2、輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量

3、儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經常拔下，避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象

4、探針筆測試結束，套好護套，避免人為斷針

  本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。