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全自動(dòng)高溫老化試驗(yàn)室是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品模擬出高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的一種設(shè)備，是提高產(chǎn)品可靠性、穩(wěn)定性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備，是各大高科技企業(yè)提高競(jìng)爭(zhēng)性和產(chǎn)品質(zhì)量的一環(huán)重要生產(chǎn)流程，以此篩選出一些出廠前就未達(dá)標(biāo)的不良品，為生產(chǎn)環(huán)節(jié)找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供有效手段，提高企業(yè)生產(chǎn)效率、產(chǎn)品質(zhì)量、市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)。
電子產(chǎn)品在加工過(guò)程中，由于元器件物料的大量使用和經(jīng)歷了復(fù)雜的加工，難免帶有小缺陷（沒(méi)有任何東西是wan美無(wú)缺的）。無(wú)論是元器件缺陷還是加工缺陷，都可分為潛在缺陷或明顯缺陷。
潛在缺陷的產(chǎn)品在當(dāng)下是可以使用的，但在使用中缺陷會(huì)逐漸暴露出來(lái)，后面會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作，例如焊錫不足，產(chǎn)品雖然可以用，但輕微振動(dòng)可能就會(huì)使焊點(diǎn)斷路。而明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。

明顯缺陷可通過(guò)常規(guī)檢驗(yàn)手段檢驗(yàn)出來(lái)，可通過(guò)電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有快捷迅速、操作簡(jiǎn)單、故障定位準(zhǔn)確的特點(diǎn)。而潛在缺陷則無(wú)法用常規(guī)檢驗(yàn)手段發(fā)現(xiàn)，而是運(yùn)用老化的方法來(lái)剔除。如果老化方法效果不好，則本應(yīng)該被剔除的潛在缺陷產(chǎn)品后面流向市場(chǎng)，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加、企業(yè)口碑受到影響。