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JKQ113錯(cuò)覺(jué)實(shí)驗(yàn)儀本儀器主要是證實(shí)繆勒-萊伊爾視錯(cuò)覺(jué)現(xiàn)象的存在和研究錯(cuò)覺(jué)量大小。
技術(shù)指標(biāo):
線段總長(zhǎng)度:200mm,箭頭線與箭尾線長(zhǎng)度可調(diào),可調(diào)范圍±20mm
錯(cuò)覺(jué)量長(zhǎng)度讀數(shù)誤差:--------<0.1mm,位于儀器的背面
箭羽長(zhǎng)度:25mm
箭羽線夾角:30°、45°、60°,
選用一種夾角箭羽線時(shí)的檔板:2塊
JCP8A布朗運(yùn)動(dòng)法納米顆粒測(cè)量?jī)x
強(qiáng)調(diào)物理內(nèi)涵與前沿技術(shù)緊密結(jié)合
強(qiáng)調(diào)可視化
同時(shí)觀測(cè)多顆粒子,給出粒徑分布圖。
強(qiáng)調(diào)綜合實(shí)驗(yàn)?zāi)芰ε囵B(yǎng)
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
顆粒樣品制備(濃度配比)
觀察、描繪布朗運(yùn)動(dòng)軌跡
測(cè)量已知標(biāo)準(zhǔn)樣品粒徑(60nm),作出粒徑分布
測(cè)量未知納米樣品粒徑(如由HT-218制備的納米顆粒),作出粒徑分布
技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量范圍:30-1000nm 平均相對(duì)誤差:<5%
JCPEB3電子束荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)儀
確保電子螺旋運(yùn)動(dòng)≥7π,電子聚焦≥3次;
3只數(shù)顯電壓表,無(wú)需另備萬(wàn)用表,防止燒表,內(nèi)置勵(lì)磁電源;
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:定量測(cè)量電子在電場(chǎng)、磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)規(guī)律;
測(cè)定電子荷質(zhì)比,驗(yàn)證電子螺旋運(yùn)動(dòng)極坐標(biāo)方程
電偏轉(zhuǎn)-電子+橫向電場(chǎng);電聚焦-電子+縱向電場(chǎng);磁偏轉(zhuǎn)-電子+橫向磁場(chǎng);螺旋運(yùn)動(dòng)磁聚焦-電子+縱向磁場(chǎng)測(cè)地磁分量
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