熱學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)儀由控制箱和若干個(gè)功能組件構(gòu)成。
控制箱內(nèi)集成了溫度、壓強(qiáng)、電壓、電流測(cè)量顯示單元；高精度長(zhǎng)時(shí)間計(jì)時(shí)單元；PID控制/手動(dòng)控制單元；多組直流電源單元；四路傳感器接口單元等部件，可滿足常用熱學(xué)實(shí)驗(yàn)的測(cè)量與控制需求。
功能組件針對(duì)某個(gè)或數(shù)個(gè)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)成獨(dú)立組件。根據(jù)教學(xué)安排，可以很方便地變更實(shí)驗(yàn)內(nèi)容或添加功能組件。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
非金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料的比熱容測(cè)量實(shí)驗(yàn)；
空氣導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料膨脹系數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)。

晶體電光效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀的組成部分；也可以單獨(dú)做實(shí)驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
掌握電光調(diào)制的原理及方法。
觀察晶體的單晶干涉現(xiàn)象，以及由電光效應(yīng)引起晶體折射率變化而產(chǎn)生的雙晶干涉現(xiàn)象。
極值法測(cè)量晶體半波電壓，計(jì)算電光系數(shù)。
加載調(diào)制電壓觀察倍頻現(xiàn)象并測(cè)量晶體半波電壓。
模擬激光通信（需增配選購(gòu)件）
特點(diǎn)：
連續(xù)可調(diào)的0~800V高壓直流電源及0~100V交流調(diào)制信號(hào)，確保觀察到多次倍頻現(xiàn)象。
三數(shù)字表分別顯示直流高壓、調(diào)制信號(hào)電壓和接收到的光電信號(hào)電壓。
電光晶體：LiNbO3
光源：半導(dǎo)體激光器，功率可調(diào)
可明顯觀察到晶體由單軸晶體變化到雙軸晶體的過(guò)程，以及由加載電壓變化引起的雙晶干渉的變化趨勢(shì)。
模擬通信實(shí)驗(yàn)可直觀的體現(xiàn)電光調(diào)制的原理。

電子束荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)儀

確保電子螺旋運(yùn)動(dòng)≥7π，電子聚焦≥3次；
3只數(shù)顯電壓表，無(wú)需另備萬(wàn)用表，防止燒表，內(nèi)置勵(lì)磁電源；
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：定量測(cè)量電子在電場(chǎng)、磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)規(guī)律；
測(cè)定電子荷質(zhì)比，驗(yàn)證電子螺旋運(yùn)動(dòng)極坐標(biāo)方程
電偏轉(zhuǎn)-電子+橫向電場(chǎng)；電聚焦-電子+縱向電場(chǎng)；磁偏轉(zhuǎn)-電子+橫向磁場(chǎng)；螺旋運(yùn)動(dòng)磁聚焦-電子+縱向磁場(chǎng)測(cè)地磁分量