介電常數(shù)測試儀 型號：MHY-28966
MHY-28966系列 介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
MHY-28966系列介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
MHY-28966系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計算得到。
1 特點：
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。
◎ 介電常數(shù)測量范圍可達1～105
2 主要技術指標：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測量精度(10kHz)：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
2.2高頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋
型號 HAD-Y2817 HAD-Y2818A
工作頻率范圍 100Hz～100kHz(6個頻點)
精度：±0.05% 20Hz～1MHz
數(shù)字合成，精度：±0.02%
電容測量范圍 0.0001pF～99999μF
四位數(shù)顯 0.00001pF～9.99999F
六位數(shù)顯
電容測量基本誤差 ±0.05% ±0.05%
損耗因素D值范圍 0.0001～9.9999
四位數(shù)顯 0.00001～9.99999
六位數(shù)顯
2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測試裝置(含保護電極)
2.3.1 平板電容器極片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合
加溫控溫裝置(選購設備)可以完成zui高200℃控溫精度l℃加熱測試
HAD-Y918 精密介電常數(shù)測試裝置提供四種不同直徑測試電極，能對直徑φ10～56mm，
厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣可設置為接觸電極法，薄膜電極法和
非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。
2.4.1 微分頭分辨率：10μm
2.4.2 zui高耐壓：±42Vp(AC+DC)
2.4.3 電纜長度設置：1m
2.4.4 zui高使用頻率：30MHz
2.5 高頻介質樣品(選購件)：
在現(xiàn)行高頻介質材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀
提供的測量標準是高頻標準介質樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，
氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。
用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。
2.6 MHY-28966系列 介電常數(shù)測試儀配置
配置類型 普及型 標準型 精密型
電橋工作頻率范圍 100Hz～100kHz
精度：±0.02% 50Hz～1MHz
精度：±0.02% 50Hz～1MHz
精度：±0.02%
配置型號 WY2817數(shù)字電橋
+WY916B測試裝置 WY2818A高頻阻抗分析儀
+WY916B三電極測試裝置 WY2818A高頻阻抗分析儀
+WY918精密測試裝置
(能適宜各種樣品)
介電常數(shù)范圍 1-10000
精度：±5% 1-10000
精度：±2% 1-10000
精度：±2%
損耗因素D值范圍 0.0001～9.9999
四位數(shù)顯 0.00001～9.99999
六位數(shù)顯 0.00001～9.99999
六位數(shù)顯
