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三星會(huì)員 | 第8年

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介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試裝置,電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成

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  介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀 型號(hào):MHY-28967
 
  MHY-28967 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀由Q表、測(cè)試裝置,電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
 
  MHY-28967介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作頻率范圍是100kHz~100MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。
 
  本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用HAD-Y2852A或HAD-Y2853A數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)。
 
  特點(diǎn):
 
  本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測(cè)Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005。
 
  能對(duì)固體絕緣材料在100kHz~100MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。
 
  調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
 
  LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài),調(diào)諧電容值等。
 
  Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
 
  DPLL合成發(fā)生1kHz~70MHz(HAD-Y2852D), 50kHz~160MHz(HAD-Y2853D)測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)源輸出口,
 
  所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。
 
  測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
 
  2 主要技術(shù)指標(biāo):
 
  2.1 tanδ和ε性能:
 
  2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率100kHz~100MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。
 
  2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍:
 
  tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
 
  2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度(1MHz):
 
  tanδ:±5%±0.00005,ε:±5%
 
  Q表
 
  型號(hào) HAD-Y2851 HAD-Y2852D HAD-Y2853D
 
  工作頻率范圍 50kHz~50MHz
 
  四位數(shù)顯,壓控振蕩器 1kHz~70MHz
 
  四位數(shù)顯,數(shù)字合成
 
  精度:±50ppm 50kHz~160MHz
 
  四位數(shù)顯,數(shù)字合成
 
  精度:±50ppm
 
  Q值測(cè)量范圍 1~1000
 
  指針,±1Q分辨率 1~1000
 
  四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率 1~1000
 
  四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率
 
  可調(diào)電容范圍 40~500 pF
 
  ΔC±3pF 40~500 pF
 
  ΔC±3pF 13~230 pF
 
  電容測(cè)量誤差 ±1%±1pF ±1%±1pF ±1%±0.5pF
 
  Q表殘余電感值 約20nH 約20nH 約8nH
 
  2.3 介質(zhì)損耗裝置: 以下是引用片段:
 
  2.3.1 平板電容器極片尺寸:
 
  HAD-Y916D:Φ38mm和Φ50mm二種.
 
  HAD-Y915:Φ38mm .
 
  2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:
 
  0~8mm, ±0.01mm
 
  2.3.3 圓筒電容器線(xiàn)性:
 
  0.33 pF /mm±0.05 pF,
 
  2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:
 
  ±12.5mm(±4.2pF)
 
  2.3.5 裝置插頭間距:
 
  25mm±0.1mm
 
  2.3.6 裝置損耗角正切值:
 
  ≤2.5×10-4
 
  2.4 電感器:
 
  按測(cè)試頻率要求,需要配置不同量的電感器。例如:在1MHz測(cè)試頻率時(shí),要配100μH或250μH電感器,在50MHz測(cè)試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。
 
  2.5 高頻介質(zhì)樣品(選購(gòu)件):
 
  在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。用戶(hù)可按需訂購(gòu),以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
 

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