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2013全國表面分析科學會議上的儀器廠商
點擊次數(shù)：390 發(fā)布時間：2014-11-13
2013 年8 月20，“2013 全國表面分析科學與技術(shù)應用學術(shù)會議暨表面分析國家標準宣貫及X 射線光電子能譜（XPS）研修班”在北京舉行。100余名從事表面分析技術(shù)研究與應用的研究人員參加了此次會議。
本次會議由高校分析測試中心研究會、全國微束分析標準化技術(shù)委員會表面分析分技術(shù)委員會主辦，國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心、北京師范大學分析測試中心和北京大學分析測試中心共同承辦。
表面分析儀器的主要供應商均參加了此次會議。賽黙飛世爾科技（中國）有限公司、島津企業(yè)管理（中國）有限公司、高德英特（北京）科技有限公司（代理日本ULVAC-PHI產(chǎn)品）、北京艾飛拓科技有限公司（代理德國ION TOF公司產(chǎn)品）、北京精微高博科學技術(shù)有限公司等分別在會議中就本公司的產(chǎn)品和技術(shù)作了主題報告。
報告人：賽黙飛世爾科技（中國）有限公司Richard G.White
報告題目：Recent advances in XPS instrumentation from Thermo Fisher Scientific
報告人：島津企業(yè)管理（中國）有限公司龔沿東
報告題目：高靈敏XPS—Axis Ultra DLD 檢測器在采譜和成像方面的應用
報告人：高德英特（北京）科技有限公司陳文徵
報告題目：PHI 公司在表面分析技術(shù)中的新進展
報告人：北京艾飛拓科技有限公司高聚寧
報告題目：飛行時間二次離子質(zhì)譜進展和應用
報告人：北京精微高博科學技術(shù)有限公司鐘家湘
報告題目：多孔粉體材料表面特性的表證與測試
另外，此次會議中賽默飛還特別設(shè)置了展位，并贊助了本次大會的歡迎晚宴。
賽默飛展位
賽默飛化學分析部運營總監(jiān)兼表面分析部門胡翔宇在晚宴中致辭
歡迎晚宴現(xiàn)場
有關(guān)本次會議的主題報告及產(chǎn)品和技術(shù)進展，敬請關(guān)注后續(xù)報道