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技術(shù)文章
北京精微高博網(wǎng)絡(luò)講堂
點(diǎn)擊次數(shù)：930 發(fā)布時(shí)間：2014-11-19
北京精微高博網(wǎng)絡(luò)講堂
微納米粉體的比表面及孔徑分布的測(cè)試與分析
2013年4月2日下午14:30，北京精微高博公司將與大家分享比表面及孔徑分析的相關(guān)知識(shí)，題為“微納米粉體的比表面及孔徑分布的測(cè)試與分析”，詳情請(qǐng)參考：/webinar/meeting/meetingInsidePage/712?ref=1.hp.18.4|1.hp.2.22
關(guān)于精微高博公司：
中國(guó)微納米粉體表面特性測(cè)試技術(shù)的*和者—北京精微高博科技，是國(guó)家認(rèn)定的*企業(yè)，是中國(guó)zui早專業(yè)從事比表面積儀、比表面及孔徑分析儀、真密度儀等表界面物性分析儀的生產(chǎn)廠家，連續(xù)九年國(guó)內(nèi)銷售額和市場(chǎng)綜合占有率遙遙，較國(guó)內(nèi)同類儀器測(cè)試精度更高，重復(fù)性更好，在微孔分析方面，*。
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