目錄:北京歐屹科技有限公司>> WPA-NIR紅外應(yīng)力雙折射測量儀
紅外應(yīng)力雙折射測量儀主要特點：
紅外波長的雙折射/相位差面分布測量
硫系、紅外透明樹脂等的光學(xué)畸變評估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布
安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View
可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)
可搭配流水線對應(yīng)的『外部控制選配』，也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場
紅外應(yīng)力雙折射測量儀主要功能：
高速測量面的雙折射/相位差分布
NIR波長僅需操作鼠標(biāo)數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息
測量數(shù)據(jù)的保存/讀取簡單快捷
全部的測量結(jié)果都可以做保存/讀取，易于跟過去的測量結(jié)果做比較等
豐富的圖形創(chuàng)建功能
可以自由制作線圖形和直方圖
測量結(jié)果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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