產(chǎn)品搜索
請輸入產(chǎn)品關(guān)鍵字:
暫無信息 |
聯(lián)系方式
技術(shù)文章
頂空技術(shù)的分類
點擊次數(shù):331 發(fā)布時間:2014-11-30
頂空技術(shù)的分類
頂空技術(shù)依據(jù)其不同的取樣和進樣方式可分為:
靜態(tài)頂空:將樣品放置在一密閉容器中,在一定溫度下放置一段時間使氣液兩相達到平衡,取氣相部分進入GC分析,有稱平衡頂空或者一次氣相萃取。
動態(tài)頂空:在樣品中連續(xù)通入惰性氣體,揮發(fā)性組分即隨該萃取氣體中樣品中溢出,然后通過一個吸附裝置(補集器)將樣品濃縮,zui后再將樣品解吸進入氣譜分析。這是一種連續(xù)的多次氣相萃取,直到樣品中的揮發(fā)性組分*萃取出來
方法優(yōu)點缺點
靜態(tài)頂空
1、樣品基質(zhì)(如水)的干擾極小
2、儀器較簡單,不需要吸附裝置
3、揮發(fā)性樣品組分不會丟失
1、靈敏度稍低
2、難以分析較高沸點的樣品
動態(tài)頂空1、可將揮發(fā)性組分全部萃取出來,并在捕集裝置中濃縮后分析
2、靈敏度較高
3、比靜態(tài)頂空應(yīng)用范圍更廣,使 用于沸點較高的組分1、樣品基質(zhì)可能干擾分析
2、儀器較復(fù)雜
3、吸附和解吸可能造成樣 品組分的丟失