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技術(shù)文章
X射線熒光光譜法檢測原理
點擊次數(shù)：689 發(fā)布時間：2014-11-30
當(dāng)照射原子核的X射線能量與原子核的內(nèi)層電子的能量在同一數(shù)量級時，核的內(nèi)層電子共振吸收射線的輻射能量后發(fā)生躍遷，而在內(nèi)層電子軌道上留下一個空穴，處于高能態(tài)的外層電子跳回低能態(tài)的空穴，將過剩的能量以X射線的形式放出，所產(chǎn)生的X射線即為代表各元素特征的X射線熒光譜線。其能量等于原子內(nèi)殼層電子的能級差，即原子特定的電子層間躍遷能量。只要測出一系列X射線熒光譜線的波長，即能確定元素的種類;測得譜線強度并與標(biāo)準(zhǔn)樣品比較，即可確定該元素的含量。由此建立了X射線熒光光譜 （XRF）分析法。
是介于原子發(fā)射光譜（AES）和原子吸收光譜（AAS）之間的光譜分析技術(shù)。它的基本原理是基態(tài)原子（一般蒸汽狀態(tài)）吸收合適的特定頻率的輻射而被激發(fā)至高能態(tài)，而后激發(fā)過程中以光輻射的形式發(fā)射出特征波長的熒光。說明:測量待測元素的原子蒸氣在一定波長的輻射能激發(fā)下發(fā)射的熒光強度進行定量分析的方法。原子熒光的波長在紫外、可見光區(qū)。氣態(tài)自由原子吸收特征波長的輻射后，原子的外層電子從基態(tài)或低能態(tài)躍遷到高能態(tài)，約經(jīng)10-8秒，又躍遷至基態(tài)或低能態(tài)，同時發(fā)射出熒光。若原子熒光的波長與吸收線波長相同，稱為共振熒光；若不同，則稱為非共振熒光。共振熒光強度大，分析中應(yīng)用zui多。在一定條件下，共振熒光強度與樣品中某元素濃度成正比。該法的優(yōu)點是靈敏度高 ,譜線簡單；在低濃度時校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬達3~5個數(shù)量級，特別是用激光做激發(fā)光源時更佳。主要用于金屬元素的測定，在環(huán)境科學(xué)、高純物質(zhì)、礦物、水質(zhì)監(jiān)控、生物制品和醫(yī)學(xué)分析等方面有廣泛的應(yīng)用。