原子吸收光度計是根據(jù)物質(zhì)基態(tài)原子蒸汽對特征輻射吸收的作用來進(jìn)行金屬元素分析,它能夠靈敏可靠地測定微量或痕量元素。該儀器一般由四大部分組成,即光源(單色銳線輻射源)、試樣原子化器、單色儀和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)(包括光電轉(zhuǎn)換器及相應(yīng)的檢測裝置)。
當(dāng)在兩極之間施加200V-500V電壓時,便產(chǎn)生輝光放電。在電場作用下,電子在飛向陽極的途中,與載氣原子碰撞并使之電離,放出二次電子,使電子與正離子數(shù)目增加,以維持放電。正離子從電場獲得動能。
如果正離子的動能足以克服金屬陰極表面的晶格能,當(dāng)其撞擊在陰極表面時,就可以將原子從晶格中濺射出來。除濺射作用之外,陰極受熱也要導(dǎo)致陰極表面元素的熱蒸發(fā)。濺射與蒸發(fā)出來的原子進(jìn)入空腔內(nèi),再與電子、原子、離子等發(fā)生第二類碰撞而受到激發(fā),發(fā)射出相應(yīng)元素的特征的共振輻射。
原子吸收光度計在使用過程中,會受到以下因素的干擾:
1、光譜干擾:此干擾主要是樣品中存在其它元素造成的干擾。此干擾近年來因中空陰極射線技術(shù)的提升已很少發(fā)生。
2、基質(zhì)干擾:一般此干擾原因有:
(1)溶液中含有機(jī)溶劑而造成吸收度的增加。
(2)因溶液的黏滯性較高因霧化效率下降而造成吸收度下降。
(3)溶液的鹽度較高而造成吸收度下降。
3、化學(xué)干擾:此干擾常發(fā)生于利用原子吸收來分析鎂、鈣、鍶及鋇等金屬。常見的干擾物種有硅酸鹽、磷酸鹽及鋁酸鹽等化合物。一般解決的方法有兩種,一為利用螯合劑(EDTA)與金屬錯合,二為添加氯化鑭與造成干擾的陰離子錯合或者可利用笑氣-乙炔來解決化學(xué)干擾的問題。
4、放射干擾:此干擾主要來自于樣品放射出與欲吸收的波長相同。此干擾可藉由提高電流強(qiáng)度或降低狹縫寬度來解決。
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