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奧林巴斯(中國)有限公司

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奧林巴斯半導(dǎo)體顯微鏡,*的MIX照明功能讓圖像更清晰!

閱讀:1505      發(fā)布時間:2020-10-12
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  半導(dǎo)體器件中的基礎(chǔ)性原材料是晶圓。*純度的半導(dǎo)體經(jīng)過拉晶、切片等工序制備成為晶圓,晶圓經(jīng)過一系列半導(dǎo)體制造工藝形成極微小的電路結(jié)構(gòu),再經(jīng)過切割、封裝、測試成為芯片,廣泛應(yīng)用到各類電子設(shè)備當(dāng)中。
 
  晶圓表面的電路結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜,當(dāng)需要對晶圓樣品的電路圖案和顏色進行微觀觀察時,傳統(tǒng)方法要求前者采用暗場照明,后者采用明場照明,并在這兩種技術(shù)之間反復(fù)切換。這種觀察方法非常耗時,因為創(chuàng)建報告時每種技術(shù)都需要圖像采集。
 
  奧林巴斯解決方案
 
  MX63/MX63L用于半導(dǎo)體/FPD檢查的工業(yè)顯微鏡提供了傳統(tǒng)觀察方法的有效替代方法:MIX照明功能。在混合光照下,可以同時觀察電路圖案和晶圓的顏色信息。混合圖像的清晰度有助于提高工作效率和報告的創(chuàng)建。
 
  薄膜(左:明場 / 右:偏光)
 
  偏光可用于顯示材料的紋理和晶體樣貌。其非常適合檢測晶片和LCD結(jié)構(gòu)。
 
  硬盤(左:明場 / 右:DIC)
 
  微分干涉差(DIC)用于幫助觀察具有細微高度差異的樣品。該技術(shù)非常適合用于檢測諸如磁頭、硬盤介質(zhì)、以及拋光晶片等具有很小高度差的樣品。
 
  半導(dǎo)體晶圓上的集成電路圖形(左:暗場 / 右:MIX(明場 + 暗場)
 
  暗場是檢測標(biāo)本上細微劃痕或缺陷以及晶片等鏡面樣品的理想工具。MIX照明可讓使用者即可觀察圖形也可觀察色彩。
 
  半導(dǎo)體晶片上的光致抗蝕劑殘留物 左:熒光 / 右: MIX(熒光 + 暗場)
 
  熒光觀察適用于使用濾色片立方照明時能夠發(fā)光的樣品。其可用于檢測污染物和光致抗蝕劑殘留物。MIX照明可實現(xiàn)光致抗蝕劑殘留和集成電路圖形的觀察。
 
  半導(dǎo)體晶片上的光致抗蝕劑殘留物 左:熒光 / 右: MIX(熒光 + 暗場)
 
  熒光觀察適用于使用濾色片立方照明時能夠發(fā)光的樣品。其可用于檢測污染物和光致抗蝕劑殘留物。MIX照明可實現(xiàn)光致抗蝕劑殘留和集成電路圖形的觀察。
 
  先進的分析工具
 
  MX63系列的各種觀察功能可生成清晰銳利的圖像,讓用戶能夠?qū)悠愤M行可靠的缺陷檢測。全新照明技術(shù)以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結(jié)果提供更多選擇。
 
  從不可見到可見:MIX觀察與圖像采集
 
  通過將暗場與諸如明場、熒光或偏光等其他觀察方法結(jié)合使用,MIX觀察技術(shù)能夠獲得*的觀察圖像。MIX觀察技術(shù)可讓用戶發(fā)現(xiàn)用傳統(tǒng)顯微鏡難以看到的缺陷。暗場觀察所用的環(huán)形LED照明器具有在時間僅使用四分之一象限的定向暗場功能。該功能可減少樣品光暈,對于樣品表面紋理的可視化非常有用。
 
  輕松生成全景圖像: 即時圖像拼接
 
  利用多圖像拼接(MIA)功能, 用戶移動手動載物臺上的XY旋鈕即可輕松快速完成圖像拼接—電動載物臺無需進行該操作。奧林巴斯Stream軟件利用模式識別生成全景圖像,讓用戶獲得更寬的視場。
 
  生成全聚焦圖像: EFI
 
  奧林巴斯Stream軟件的景深擴展成像(EFI)功能可采集高度超出物鏡焦點深度的樣品圖像,并可將其合成一幅全聚焦圖像。EFI配合手動或電動Z軸調(diào)焦使用,可輕松實現(xiàn)結(jié)構(gòu)可視化的高度圖像。其也可在Stream桌面版(Desktop)離線情況下生成EFI圖像。
 
  利用HDR同時捕捉明亮區(qū)域和暗光區(qū)域
 
  采用先進圖像處理技術(shù)的高動態(tài)范圍(HDR)可在圖像內(nèi)調(diào)整亮度差異,從而減少眩光。HDR改善了數(shù)字圖像的視覺品質(zhì),從而有助于生成具有專業(yè)級外觀的報告。
 
  從基本測量到高級分析
 
測量對于品質(zhì)、工藝控制和檢測非常重要?;谶@一想法,即便是入門級奧林巴斯Stream軟件包也融入了交互測量功能的全部菜單,并且所有測量結(jié)果與圖像文件一起保存以便存檔。此外,奧林巴斯Stream材料解決方案可為復(fù)雜圖像分析提供面向工作流的直觀界面。點擊按鈕一下,圖像分析任務(wù)即可快速完成。在大幅度縮減重復(fù)性任務(wù)的處理時間情況下,操作人員可以將精力集中在手邊的檢測工作上。 
基本測量(印刷電路板上的圖形)
 
  分散能力解決方案(PCB通孔的橫截面)
 
  自動測量解決方案(晶圓結(jié)構(gòu))
 
  選配晶圓搬送機 — AL120系統(tǒng)
 
  選配的晶圓搬送機可安裝在MX63系列上,實現(xiàn)無需使用鑷子或工具即可安全地將硅片及化合物半導(dǎo)體晶圓從片盒轉(zhuǎn)移到顯微鏡載物臺上。性能和可靠性可實現(xiàn)安全高效的前后宏觀檢測,同時搬送機還可幫助提高實驗室工作效率。
 
  MX63系統(tǒng)與AL120晶圓搬送機結(jié)合使用(200毫米型號)
 
  快速、清潔的檢測
 
  MX63系列可實現(xiàn)無污染的晶圓檢測。所有電動組件均安裝在防護結(jié)構(gòu)殼內(nèi),顯微鏡鏡架、鏡筒、呼吸防護罩、及其他部件均采用防靜電處理。電動物鏡轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)速比手動物鏡轉(zhuǎn)換器更快更安全,縮短檢測間隔時間的同時,讓操作人員的手始終保持在晶圓下方,避免了潛在的污染。
 
  防靜電呼吸防護罩
 
  電動物鏡轉(zhuǎn)換器
 
  接受所有晶圓尺寸
 
  該系統(tǒng)可配合各類150–200毫米和200– 300毫米晶圓支架和玻璃板使用。如果生產(chǎn)線上的晶圓尺寸發(fā)生變化,以很少的成本即可更改顯微鏡鏡架。有了MX63系列,各種載物臺均可用于檢測75毫米、100毫米、125 毫米和150毫米晶圓。
 
  晶圓支架和玻璃板
 
  讓您的大尺寸樣品檢測流程更加順暢
 
  MX 63 和 MX63L 顯微鏡系統(tǒng)具有多種功能,采用符合人體工學(xué)的易用設(shè)計,能夠提供大 300mm 晶圓、平板顯示器、印刷電路板、以及其他大型樣本的高品質(zhì)觀察。該產(chǎn)品采用靈活的模塊設(shè)計,能夠提供適用于多種檢查用途的觀察系統(tǒng)。通過與奧林巴斯 Stream 圖像分析軟件結(jié)合,從觀察到報告生成在內(nèi)的整體檢查過程都變得簡單而流暢。

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